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Paramétrages

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1. WO2007145232 - PROCÉDÉ DE SPECTROMÉTRIE DE MASSE DES IONS SECONDAIRES ET PROCÉDÉ D'IMAGERIE

Numéro de publication WO/2007/145232
Date de publication 21.12.2007
N° de la demande internationale PCT/JP2007/061864
Date du dépôt international 13.06.2007
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 09.04.2008
CIB
G01N 27/62 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
27Recherche ou analyse des matériaux par l'emploi de moyens électriques, électrochimiques ou magnétiques
62en recherchant l'ionisation des gaz; en recherchant les décharges électriques, p.ex. l'émission cathodique
H01J 49/14 2006.01
HÉLECTRICITÉ
01ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
JTUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
49Spectromètres pour particules ou tubes séparateurs de particules
02Détails
10Sources d'ions; Canons à ions
14utilisant un bombardement de particules, p.ex. chambres d'ionisation
CPC
H01J 49/0004
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
0004Imaging particle spectrometry
H01J 49/142
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
02Details
10Ion sources; Ion guns
14using particle bombardment, e.g. ionisation chambers
142using a solid target which is not previously vapourised
Déposants
  • 国立大学法人京都大学 KYOTO UNIVERSITY [JP/JP]; 〒6068501 京都府京都市左京区吉田本町36番地1 Kyoto 36-1, Yoshida-honmachi, Sakyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6068501, JP (AllExceptUS)
  • 松尾二郎 MATSUO, Jiro; null (UsOnly)
Inventeurs
  • 松尾二郎 MATSUO, Jiro; null
Mandataires
  • 特許業務法人池内・佐藤アンドパートナーズ IKEUCHI SATO & PARTNER PATENT ATTORNEYS; 〒5306026 大阪府大阪市北区天満橋1丁目8番30号OAPタワー26階 Osaka 26th Floor, OAP TOWER, 8-30, Tenmabashi 1-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5306026, JP
Données relatives à la priorité
2006-16377813.06.2006JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY METHOD AND IMAGING METHOD
(FR) PROCÉDÉ DE SPECTROMÉTRIE DE MASSE DES IONS SECONDAIRES ET PROCÉDÉ D'IMAGERIE
(JA) 二次イオン質量分析方法及びイメージング方法
Abrégé
(EN)
It is intended to provide a novel method by which an organic molecule such as a protein or an endocrine disruptor can be analyzed at a high sensitivity. A secondary ion mass spectrometry method with the use of a heavy ion beam as a primary ion beam, which can achieve a high sensitivity, is usable in detecting a biologically-relevant substance at, for example, the subattomole level. Thus, it becomes possible to favorably image a biologically-relevant sample.
(FR)
La présente invention concerne un procédé innovant permettant d'analyser avec une sensibilité élevée une molécule organique telle qu'une protéine ou un modulateur endocrinien. Selon l'invention, un procédé de spectrométrie de masse des ions secondaires, selon lequel un faisceau d'ions primaire sert de faisceau d'ions lourds et qui permet d'obtenir une sensibilité élevée, peut être utilisé pour détecter une substance biologiquement pertinente, à un niveau subattomolaire par exemple. Il devient ainsi possible d'obtenir une bonne image d'un échantillon biologiquement pertinent.
(JA)
 優れた感度でタンパク質や環境ホルモン等の有機分子を分析する新たな方法の提供。 重イオンビームを一次イオンビームに使用した二次イオン質量分析方法は、高感度であって、例えば、サブアトモルレベルの生体関連物質を検出できる。これにより、良好な生体関連試料のイメージングが可能となる。
Également publié en tant que
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