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Paramétrages

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1. WO2007143220 - STRUCTURE DE RÉSEAU À BALAYAGE RECONFIGURABLE

Numéro de publication WO/2007/143220
Date de publication 13.12.2007
N° de la demande internationale PCT/US2007/013428
Date du dépôt international 07.06.2007
CIB
G01R 31/28 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
CPC
G01R 31/318538
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
3185Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
318533using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
318536Scan chain arrangements, e.g. connections, test bus, analog signals
318538Topological or mechanical aspects
Déposants
  • CHEN, Xinghao [US/US]; US
Inventeurs
  • CHEN, Xinghao; US
Mandataires
  • HOFFMAN, Bernard, S.; 10 Colgate Street Port Jefferson Station, NY 11776, US
Données relatives à la priorité
60/812,06408.06.2006US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) RECONFIGURABLE SCAN ARRAY STRUCTURE
(FR) STRUCTURE DE RÉSEAU À BALAYAGE RECONFIGURABLE
Abrégé
(EN)
A reconfigurable scan array structure (60) for providing greater flexibility in customizing scan configurations for post-manufacturing applications. The structure (60) includes multiple scan cell segments (62), programmable scan-mode control switches (66), and programmable scan configuration switches (72). The multiple scan cell segments (62) are arranged in an array (64). The programmable scan-mode control switches (66) are placed between same scan cells (68) on two neighboring scan cell segments (70) and enable fine-tuning custom scan configurations to maximize effectiveness and efficiency for individual applications and designs. The programmable scan configuration switches (72) are placed between two scan cell segments (62) on a same row (74) as well as the left and right sides (76,78) of the scan array structure (60) and provide access points into the array structure (60) by SIs, SOs, or MISRs, and other manufacturing-critical components as well as enabling many scan configurations.
(FR)
Structure de réseau à balayage reconfigurable (60) permettant d'obtenir une plus grande souplesse dans la personnalisation des configurations de balayage pour des applications de post-fabrication. La structure (60) comprend de multiples segments de cellules de balayage (62), et des commutateurs de commande de configuration de balayage programmables (72). Les segments de cellules de balayage multiples (62) sont agencés en un réseau (64). Les commutateurs de commande en mode balayage programmables (66) sont placés entre les mêmes cellules de balayage (68), sur deux segments de cellules de balayage voisins (70) et permettent des configurations de balayage personnalisées à réglage fin, en vue de maximiser l'efficacité et le rendement pour des applications et des conceptions individuelles. Les commutateurs de configuration de balayage programmables (72) sont placés entre deux segments de cellules de balayage (62) sur la même rangée (74) que les côtés gauche et droite (76, 78) de la structure de réseau à balayage (60) et fournissent des points d'accès dans la structure de réseau (60) par Sls, SOs, ou MISRs, et d'autres composants critiques de fabrication, tout en permettant de nombreuses configurations de balayage.
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