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Paramétrages

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1. WO2007141935 - PROCÉDÉ DE MESURE DE TENSION CONTINUE RÉSIDUELLE ET DISPOSITIF DE MESURE ASSOCIÉ

Numéro de publication WO/2007/141935
Date de publication 13.12.2007
N° de la demande internationale PCT/JP2007/053288
Date du dépôt international 22.02.2007
CIB
G02F 1/1337 2006.01
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
FDISPOSITIFS OU SYSTÈMES DONT LE FONCTIONNEMENT OPTIQUE EST MODIFIÉ PAR CHANGEMENT DES PROPRIÉTÉS OPTIQUES DU MILIEU CONSTITUANT CES DISPOSITIFS OU SYSTÈMES ET DESTINÉS À LA COMMANDE DE L'INTENSITÉ, DE LA COULEUR, DE LA PHASE, DE LA POLARISATION OU DE LA DIRECTION DE LA LUMIÈRE, p.ex. COMMUTATION, OUVERTURE DE PORTE, MODULATION OU DÉMODULATION; TECHNIQUES NÉCESSAIRES AU FONCTIONNEMENT DE CES DISPOSITIFS OU SYSTÈMES; CHANGEMENT DE FRÉQUENCE; OPTIQUE NON LINÉAIRE; ÉLÉMENTS OPTIQUES LOGIQUES; CONVERTISSEURS OPTIQUES ANALOGIQUES/NUMÉRIQUES
1Dispositifs ou systèmes pour la commande de l'intensité, de la couleur, de la phase, de la polarisation ou de la direction de la lumière arrivant d'une source lumineuse indépendante, p.ex. commutation, ouverture de porte ou modulation; Optique non linéaire
01pour la commande de l'intensité, de la phase, de la polarisation ou de la couleur
13basés sur des cristaux liquides, p.ex. cellules d'affichage individuelles à cristaux liquides
133Dispositions relatives à la structure; Excitation de cellules à cristaux liquides; Dispositions relatives aux circuits
1333Dispositions relatives à la structure
1337Orientation des molécules des cristaux liquides induite par les caractéristiques de surface, p.ex. par des couches d'alignement
G02F 1/13 2006.01
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
FDISPOSITIFS OU SYSTÈMES DONT LE FONCTIONNEMENT OPTIQUE EST MODIFIÉ PAR CHANGEMENT DES PROPRIÉTÉS OPTIQUES DU MILIEU CONSTITUANT CES DISPOSITIFS OU SYSTÈMES ET DESTINÉS À LA COMMANDE DE L'INTENSITÉ, DE LA COULEUR, DE LA PHASE, DE LA POLARISATION OU DE LA DIRECTION DE LA LUMIÈRE, p.ex. COMMUTATION, OUVERTURE DE PORTE, MODULATION OU DÉMODULATION; TECHNIQUES NÉCESSAIRES AU FONCTIONNEMENT DE CES DISPOSITIFS OU SYSTÈMES; CHANGEMENT DE FRÉQUENCE; OPTIQUE NON LINÉAIRE; ÉLÉMENTS OPTIQUES LOGIQUES; CONVERTISSEURS OPTIQUES ANALOGIQUES/NUMÉRIQUES
1Dispositifs ou systèmes pour la commande de l'intensité, de la couleur, de la phase, de la polarisation ou de la direction de la lumière arrivant d'une source lumineuse indépendante, p.ex. commutation, ouverture de porte ou modulation; Optique non linéaire
01pour la commande de l'intensité, de la phase, de la polarisation ou de la couleur
13basés sur des cristaux liquides, p.ex. cellules d'affichage individuelles à cristaux liquides
G02F 1/133 2006.01
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
FDISPOSITIFS OU SYSTÈMES DONT LE FONCTIONNEMENT OPTIQUE EST MODIFIÉ PAR CHANGEMENT DES PROPRIÉTÉS OPTIQUES DU MILIEU CONSTITUANT CES DISPOSITIFS OU SYSTÈMES ET DESTINÉS À LA COMMANDE DE L'INTENSITÉ, DE LA COULEUR, DE LA PHASE, DE LA POLARISATION OU DE LA DIRECTION DE LA LUMIÈRE, p.ex. COMMUTATION, OUVERTURE DE PORTE, MODULATION OU DÉMODULATION; TECHNIQUES NÉCESSAIRES AU FONCTIONNEMENT DE CES DISPOSITIFS OU SYSTÈMES; CHANGEMENT DE FRÉQUENCE; OPTIQUE NON LINÉAIRE; ÉLÉMENTS OPTIQUES LOGIQUES; CONVERTISSEURS OPTIQUES ANALOGIQUES/NUMÉRIQUES
1Dispositifs ou systèmes pour la commande de l'intensité, de la couleur, de la phase, de la polarisation ou de la direction de la lumière arrivant d'une source lumineuse indépendante, p.ex. commutation, ouverture de porte ou modulation; Optique non linéaire
01pour la commande de l'intensité, de la phase, de la polarisation ou de la couleur
13basés sur des cristaux liquides, p.ex. cellules d'affichage individuelles à cristaux liquides
133Dispositions relatives à la structure; Excitation de cellules à cristaux liquides; Dispositions relatives aux circuits
CPC
G02F 1/1309
GPHYSICS
02OPTICS
FDEVICES OR ARRANGEMENTS, THE OPTICAL OPERATION OF WHICH IS MODIFIED BY CHANGING THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIUM OF THE DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF THE INTENSITY, COLOUR, PHASE, POLARISATION OR DIRECTION OF LIGHT, e.g. SWITCHING, GATING, MODULATING OR DEMODULATING; TECHNIQUES OR PROCEDURES FOR THE OPERATION THEREOF; FREQUENCY-CHANGING; NON-LINEAR OPTICS; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
1Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating, or modulating; Non-linear optics
01for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
13based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
1306Details
1309Repairing; Testing
G02F 2203/69
GPHYSICS
02OPTICS
FDEVICES OR ARRANGEMENTS, THE OPTICAL OPERATION OF WHICH IS MODIFIED BY CHANGING THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIUM OF THE DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF THE INTENSITY, COLOUR, PHASE, POLARISATION OR DIRECTION OF LIGHT, e.g. SWITCHING, GATING, MODULATING OR DEMODULATING; TECHNIQUES OR PROCEDURES FOR THE OPERATION THEREOF; FREQUENCY-CHANGING; NON-LINEAR OPTICS; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
2203Function characteristic
69Arrangements or methods for testing or calibrating a device
G09G 3/006
GPHYSICS
09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
3Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
Déposants
  • シャープ株式会社 SHARP KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 〒5458522 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 Osaka 22-22, Nagaike-cho, Abeno-ku Osaka-shi Osaka 5458522, JP (AllExceptUS)
  • 国立大学法人東北大学 TOHOKU UNIVERSITY [JP/JP]; 〒9808577 宮城県仙台市青葉区片平二丁目1番1号 Miyagi 1-1, Katahira 2-chome, Aoba-ku Sendai-shi Miyagi 9808577, JP (AllExceptUS)
  • 水▲崎▼ 真伸 MIZUSAKI, Masanobu; null (UsOnly)
  • 内田 龍男 UCHIDA, Tatsuo; null (UsOnly)
Inventeurs
  • 水▲崎▼ 真伸 MIZUSAKI, Masanobu; null
  • 内田 龍男 UCHIDA, Tatsuo; null
Mandataires
  • 特許業務法人原謙三国際特許事務所 HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK; 〒5300041 大阪府大阪市北区天神橋2丁目北2番6号 大和南森町ビル Osaka Daiwa Minamimorimachi Building 2-6, Tenjinbashi 2-chome Kita Kita-ku, Osaka-shi Osaka 5300041, JP
Données relatives à la priorité
2006-15279231.05.2006JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) RESIDUAL DC VOLTAGE EVALUATING METHOD AND EVALUATION DEVICE THEREFOR
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE DE TENSION CONTINUE RÉSIDUELLE ET DISPOSITIF DE MESURE ASSOCIÉ
(JA) 残留DC電圧評価方法およびその評価装置
Abrégé
(EN)
A residual DC voltage evaluating method for evaluating residual DC voltage produced in a liquid crystal cell comprising a liquid crystal held between oriented films, in which a plurality of sets of a combination of voltage applying time t during which a voltage is applied to the liquid crystal cell externally with a residual DC voltage VrDC produced by applying a voltage during the voltage applying time t are measured, and the measurements plotted at a plurality of points as reference signs (30) are curve-fitted using the expression 1. [Expression 1] VrDC(t) = {q/CLC}{kanf /(kanf + kd)}N[1-exp{-(kanf + kd)t}] Accordingly, a residual DC voltage evaluating method is provided which can compare between materials by obtaining parameters specific to liquid crystal materials and oriented film materials.
(FR)
Procédé de mesure de tension continue résiduelle pour mesurer la tension continue résiduelle produite par une cellule à cristal liquide comprenant un cristal liquide maintenu entre des couches orientées, dans lequel une pluralité d'ensembles d'une combinaison de temps t d'application d'une tension pendant lequel une tension est appliquée de l'extérieur à la cellule de cristal liquide, et d'une tension continue résiduelle VrDC produite en appliquant une tension pendant le temps d'application t, sont mesurés et les mesures reportées sur un graphe en une pluralité de points comme signes de référence (30) sont modélisées en utilisant l'expression 1. [Expression 1] VrDC(t) = {q/CLC}{kanf /(kanf + kd)}N[1-exp{-(kanf + kd)t}] Ainsi, on obtient un procédé de mesure de tension continue résiduelle qui permet de faire des comparaisons entre des matériaux en obtenant les paramètres spécifiques aux matériaux de cristaux liquides et aux matériaux de couches orientées.
(JA)
not available
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