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Paramétrages

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1. WO2007139648 - PROCÉDÉ POUR OPTIMISER LA PRÉCISION D'UN CIRCUIT DE SONDE THERMIQUE

Numéro de publication WO/2007/139648
Date de publication 06.12.2007
N° de la demande internationale PCT/US2007/010307
Date du dépôt international 27.04.2007
CIB
G11C 7/04 2006.01
GPHYSIQUE
11ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
CMÉMOIRES STATIQUES
7Dispositions pour écrire une information ou pour lire une information dans une mémoire numérique
04avec des moyens d'éviter les effets perturbateurs thermiques
G11C 8/00 2006.01
GPHYSIQUE
11ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
CMÉMOIRES STATIQUES
8Dispositions pour sélectionner une adresse dans une mémoire numérique
CPC
G11C 5/147
GPHYSICS
11INFORMATION STORAGE
CSTATIC STORES
5Details of stores covered by G11C11/00
14Power supply arrangements
147Voltage reference generators, voltage and current regulators
G11C 7/04
GPHYSICS
11INFORMATION STORAGE
CSTATIC STORES
7Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
04with means for avoiding disturbances due to temperature effects
Déposants
  • SANDISK 3D LLC [US/US]; 601 Mccarthy Boulevard Milpitas, CA 95035, US (AllExceptUS)
  • SO, Kenneth [CA/US]; US (UsOnly)
  • AL-SHAMMA, Ali [IQ/US]; US (UsOnly)
Inventeurs
  • SO, Kenneth; US
  • AL-SHAMMA, Ali; US
Mandataires
  • HETZ, Joseph, F.; Brinks Hofer Gilson & Lione P.O. Box 10087 Chicago, IL 60610, US
Données relatives à la priorité
11/441,38924.05.2006US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) METHOD FOR IMPROVING THE PRECISION OF A TEMPERATURE-SENSOR CIRCUIT
(FR) PROCÉDÉ POUR OPTIMISER LA PRÉCISION D'UN CIRCUIT DE SONDE THERMIQUE
Abrégé
(EN)
The preferred embodiment described below provide a method and a memory device for improving the precision of a temperature sensor circuit (160). In one preferred embodiment, first (Vtemp1) and second (Vtemp2) temperature dependent reference voltages are generated and compared, and an operating condition of the memory array is controlled based on the result (TempTrip1, TempTrip2) of the comparison.
(FR)
La présente invention concerne un procédé et un dispositif de mémoire pour optimiser la précision d'un circuit de sonde thermique. Dans un mode de réalisation préféré, des première et seconde tensions de référence qui dépendent de la température sont générées et comparées, et une condition de fonctionnement de la matrice mémoire est commandée sur la base du résultat de la comparaison. Au lieu d'utiliser une tension de référence qui dépend de la température, un courant de référence qui dépend de la température peut être utilisé. D'autres modes de réalisation sont décrits, et chaque mode de réalisation peut être utilisé seul ou en association.
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