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1. (WO2007138831) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF D'EXAMEN DE CARTE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/138831    N° de la demande internationale :    PCT/JP2007/059686
Date de publication : 06.12.2007 Date de dépôt international : 10.05.2007
CIB :
G01R 31/02 (2006.01)
Déposants : NIDEC-READ CORPORATION [JP/JP]; 10 Tsutsumisoto-cho, Nishikyogoku, Ukyo-ku, Kyoto-shi Kyoto 6150854 (JP) (Tous Sauf US).
YAMASHITA, Munehiro [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : YAMASHITA, Munehiro; (JP)
Mandataire : KITAMURA, Hideaki; 338 Kuzetonoshiro-cho, Minami-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6018205 (JP)
Données relatives à la priorité :
2006-149162 30.05.2006 JP
Titre (EN) BOARD EXAMINATION METHOD AND BOARD EXAMINATION DEVICE
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF D'EXAMEN DE CARTE
(JA) 基板検査方法及び基板検査装置
Abrégé : front page image
(EN)[PROBLEMS] To provide a board examination method and device for examining a board under test by means of which the number of examinations of electrical connection of a wiring pattern provided to a board is small and the examination time is shortened. [MEANS FOR SOLVING PROBLEMS] The method examines a board in which terminals are provided on both sides of the board, the terminals on one side are interconnected, or the ones on the other side are interconnected, or the terminals on one side are connected to the one on the other side through a wiring pattern, and thereby nets are formed. The method is characterized in that electrical connection between the terminals in the nets on one side, electrical connection between the terminals in the nets on the other side, and electrical connection between one terminal on one side and one terminal on the other side in the same net as the terminal on the one side are examined.
(FR)Le problème à résoudre dans le cadre de l'invention est de fournir un procédé et un dispositif d'examen de carte pour examiner une carte testée au moyen de quoi le nombre d'examens de raccordement électrique d'un motif de câblage fourni sur une carte est réduit et le temps d'examen est raccourci. Le moyen de résoudre le problème consiste à fournir un procédé qui examine une carte dans laquelle les bornes sont prévues des deux côtés de la carte, les bornes d'un côté sont interconnectées ou celles de l'autre côté sont interconnectées ou les bornes d'un côté sont connectées à celles de l'autre côté via un motif de câblage, des réseaux sont ainsi formés. Le procédé est caractérisé en ce que la connexion électrique entre les bornes dans les réseaux d'un côté, la connexion électrique entre les bornes dans les réseaux de l'autre côté et la connexion électrique entre une borne d'un côté et une borne de l'autre côté dans le même réseau que la borne du premier côté sont examinées.
(JA)【課題】 被検査基板に設けられる配線パターンの導通検査時における検査回数を低減し、検査時間を短縮することができる基板検査方法及び基板検査装置を提供する。 【解決手段】 一方表面と他方表面に夫々複数の端子が形成され、複数の一方表面の端子同士、複数の他方表面の端子同士及び/又は一方表面の端子と他方表面の端子が、配線パターンにより相互に接続されて複数のネットが形成される基板の検査方法において、前記ネットにおける前記一方表面の端子間の導通を検査し、前記ネットにおける前記他方表面の端子間の導通を検査し、前記一方表面上一つの端子と、該端子と同一のネットにおける他方表面の一つの端子の間の導通を検査することを特徴とする。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)