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Paramétrages

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1. WO2007138798 - PROCÉDÉ ET APPAREIL POUR INSPECTER UN MOTIF DE CÂBLAGE D'UNE CARTE À CIRCUIT IMPRIMÉ FLEXIBLE

Numéro de publication WO/2007/138798
Date de publication 06.12.2007
N° de la demande internationale PCT/JP2007/058468
Date du dépôt international 18.04.2007
CIB
G01B 11/24 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
24pour mesurer des contours ou des courbes
G01N 21/956 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
84Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières
88Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
95caractérisée par le matériau ou la forme de l'objet à analyser
956Inspection de motifs sur la surface d'objets
H05K 3/00 2006.01
HÉLECTRICITÉ
05TECHNIQUES ÉLECTRIQUES NON PRÉVUES AILLEURS
KCIRCUITS IMPRIMÉS; ENVELOPPES OU DÉTAILS DE RÉALISATION D'APPAREILS ÉLECTRIQUES; FABRICATION D'ENSEMBLES DE COMPOSANTS ÉLECTRIQUES
3Appareils ou procédés pour la fabrication de circuits imprimés
CPC
G01B 11/24
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
24for measuring contours or curvatures
G01N 2021/4709
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
47Scattering, i.e. diffuse reflection
4704Angular selective
4709Backscatter
G01N 2021/4735
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
47Scattering, i.e. diffuse reflection
4735Solid samples, e.g. paper, glass
G01N 2021/95638
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
95characterised by the material or shape of the object to be examined
956Inspecting patterns on the surface of objects
95638for PCB's
G01N 21/47
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
47Scattering, i.e. diffuse reflection
G01N 21/89
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
89in moving material, e.g. running paper or textiles
Déposants
  • 三井金属鉱業株式会社 MITSUI MINING & SMELTING CO., LTD. [JP/JP]; 〒1418584 東京都品川区大崎1丁目11番1号 Tokyo 11-1, Osaki 1-chome, Shinagawa-ku, Tokyo 1418584, JP (AllExceptUS)
  • 楢林 哲之 NARABAYASHI, Tetsuyuki [JP/JP]; JP (UsOnly)
Inventeurs
  • 楢林 哲之 NARABAYASHI, Tetsuyuki; JP
Mandataires
  • 酒井 宏明 SAKAI, Hiroaki; 〒1006020 東京都千代田区霞が関三丁目2番5号 霞が関ビルディング 酒井国際特許事務所 Tokyo Sakai International Patent Office Kasumigaseki Building 2-5, Kasumigaseki 3-chome Chiyoda-ku, Tokyo 1006020, JP
Données relatives à la priorité
2006-15007830.05.2006JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING WIRING PATTERN OF FLEXIBLE PRINTED WIRING BOARD
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL POUR INSPECTER UN MOTIF DE CÂBLAGE D'UNE CARTE À CIRCUIT IMPRIMÉ FLEXIBLE
(JA) フレキシブルプリント配線基板の配線パターン検査方法および検査装置
Abrégé
(EN)
To accurately inspect conformity of a wiring pattern without increasing a measuring time nor increasing sizes and cost of an inspecting apparatus. A mirror-finished drum (32) is arranged on the rear side of a TAB tape (T), and a wiring pattern image of an inspection area (D) is imaged by applying illuminating light from the front side. Light passed through at a part of the light transmitting insulating film (60) is reflected by the drum (32), passes through the light transmitting insulating film (60) as indirect transmitting light and returns to the front side. Thus, defects, which relate to short-circuiting on the light transmitting insulating film (60) and are difficult to be detected when the mirror-finished drum (32) is not arranged on the rear side, can be detected at the same time when a defect on the front side of the wiring pattern (61) is detected.
(FR)
La présente invention permet d'inspecter de manière précise la conformité d'un motif de câblage sans augmenter un temps de mesure ou augmenter les dimensions et le coût d'un appareil d'inspection. Un tambour poli miroir (32) est disposé sur le côté arrière d'une bande à transfert automatique sur bande (T), et une image de motif de câblage d'une zone d'inspection (D) est traitée en tant qu'image en appliquant une lumière d'éclairage à partir du côté avant. La lumière ayant traversé au niveau d'une partie du film isolant de transmission de lumière (60) est réfléchie par le tambour (32), traverse le film isolant de transmission de lumière (60) comme lumière de transmission indirecte et retourne vers le côté avant. Des défauts, qui se rapportent au court-circuitage sur le film isolant de transmission de lumière (60) et sont difficiles à détecter lorsque le tambour poli miroir (32) n'est pas disposé sur le côté arrière, peuvent ainsi être détectés en même temps que lorsqu'un défaut sur le côté avant du motif de câblage (61) est détecté.
(JA)
not available
Également publié en tant que
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