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Paramétrages

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1. WO2007138540 - SYSTÈME DE LENTILLES

Numéro de publication WO/2007/138540
Date de publication 06.12.2007
N° de la demande internationale PCT/IB2007/051986
Date du dépôt international 25.05.2007
CIB
G01J 5/08 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
JMESURE DE L'INTENSITÉ, DE LA VITESSE, DU SPECTRE, DE LA POLARISATION, DE LA PHASE OU DES CARACTÉRISTIQUES D'IMPULSIONS DE LUMIÈRE INFRAROUGE, VISIBLE OU ULTRAVIOLETTE; COLORIMÉTRIE; PYROMÉTRIE DES RADIATIONS
5Pyrométrie des radiations
02Détails
08Particularités optiques
CPC
G01J 2005/0077
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
5Radiation pyrometry
0077Imaging
G01J 5/0037
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
5Radiation pyrometry
0037for sensing the heat emitted by liquids
G01J 5/08
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
5Radiation pyrometry
02Details
08Optical features
G01J 5/0806
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
5Radiation pyrometry
02Details
08Optical features
0803Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, gratings, holograms, cubic beamsplitters, prisms, particular coatings
0806using focussing or collimating elements, e.g. lenses or mirrors
G01J 5/0809
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
5Radiation pyrometry
02Details
08Optical features
0803Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, gratings, holograms, cubic beamsplitters, prisms, particular coatings
0809using plane or convex mirrors, parallel phase plates or particular reflectors
G01J 5/0846
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
5Radiation pyrometry
02Details
08Optical features
0803Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, gratings, holograms, cubic beamsplitters, prisms, particular coatings
0846using multiple detectors for performing different types of detection, e.g. radiometry and reflectometry channels
Déposants
  • KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1 NL-5621 BA Eindhoven, NL (AllExceptUS)
  • KOLESNYCHENKO, Aleksey [NL/NL]; NL (UsOnly)
  • STALLINGA, Sjoerd [NL/NL]; NL (UsOnly)
  • STAPERT, Hendrik, R. [NL/NL]; NL (UsOnly)
Inventeurs
  • KOLESNYCHENKO, Aleksey; NL
  • STALLINGA, Sjoerd; NL
  • STAPERT, Hendrik, R.; NL
Mandataires
  • SCHOUTEN, Marcus, M.; Prof. Holstlaan 6 NL-5656 AA Eindhoven, NL
Données relatives à la priorité
06114668.430.05.2006EP
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) LENS SYSTEM
(FR) SYSTÈME DE LENTILLES
Abrégé
(EN)
The present invention concerns a lens system. More specifically, it concerns a lens system comprising a first lens (3), a deflection element (5) and a second lens (6), wherein the deflection element (5) is arranged between the first lens (3) and the second lens (6). The deflection element comprises at least a first annular zone and a second annular zone, the annular zones being arranged in a concentric fashion and wherein the deflection angle of each annular zone is different from the deflection angle of every other annular zone. Furthermore, the present invention concerns a temperature analysis system comprising a lens system and the use of a temperature analysis system.
(FR)
La présente invention concerne un système de lentilles. De manière plus spécifique, la présente invention concerne un système de lentilles comportant une première lentille (3), un élément de déviation (5) et une seconde lentille (6), ledit élément de déviation (5) étant disposé entre la première lentille (3) et la seconde lentille (6). L'élément de déviation comporte au moins une première zone annulaire et une seconde zone annulaire, les zones annulaires étant disposées de manière concentrique et l'angle de déviation de chaque zone annulaire étant différent de l'angle de déviation de chaque autre zone annulaire. La présente invention concerne également un système d'analyse de température comportant un système de lentilles ainsi que l'utilisation d'un système d'analyse de température.
Également publié en tant que
RU2008147092
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