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Paramétrages

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1. WO2007137768 - GESTIONNAIRE PRÉSENTANT UN DISPOSITIF D'ACCÉLÉRATION, DESTINÉ À TESTER DES COMPOSANTS ÉLECTRONIQUES

Numéro de publication WO/2007/137768
Date de publication 06.12.2007
N° de la demande internationale PCT/EP2007/004644
Date du dépôt international 24.05.2007
CIB
G01R 31/28 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
G01M 7/04 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
MTEST D'ÉQUILIBRAGE STATIQUE OU DYNAMIQUE DES MACHINES OU DES STRUCTURES OU DES OUVRAGES; TEST DES STRUCTURES, DES OUVRAGES OU DES APPAREILS, NON PRÉVU AILLEURS
7Test de vibration des structures ou des ouvrages; Test de résistance au choc des structures ou des ouvrages
02Test de vibration
04Supports pour test unidirectionnel
CPC
G01M 7/04
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
7Vibration-testing of structures; Shock-testing of structures
02Vibration-testing ; by means of a shake table
04Monodirectional test stands
G01R 31/2881
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2851Testing of integrated circuits [IC]
2855Environmental, reliability or burn-in testing
2872related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation
2881related to environmental aspects other than temperature, e.g. humidity or vibrations
G01R 31/2893
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2851Testing of integrated circuits [IC]
2893Handling, conveying or loading, e.g. belts, boats, vacuum fingers
Déposants
  • MULTITEST ELEKTRONISCHE SYSTEME GMBH [DE/DE]; Äussere Oberaustrasse 4 83026 Rosenheim, DE (AllExceptUS)
  • KIERMEIER, Arnfried [DE/DE]; DE (UsOnly)
  • KLIER, Michael [DE/DE]; DE (UsOnly)
  • MÜHLBAUER, Josef [DE/DE]; DE (UsOnly)
Inventeurs
  • KIERMEIER, Arnfried; DE
  • KLIER, Michael; DE
  • MÜHLBAUER, Josef; DE
Mandataires
  • BAUER, Friedrich; Adlzreiterstrasse 11 83022 Rosenheim , DE
Données relatives à la priorité
10 2006 025 341.831.05.2006DE
Langue de publication allemand (DE)
Langue de dépôt allemand (DE)
États désignés
Titre
(DE) HANDLER MIT BESCHLEUNIGUNGSVORRICHTUNG ZUM TESTEN VON ELEKTRONISCHEN BAUELEMENTEN
(EN) HANDLER COMPRISING AN ACCELERATION DEVICE FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENTS
(FR) GESTIONNAIRE PRÉSENTANT UN DISPOSITIF D'ACCÉLÉRATION, DESTINÉ À TESTER DES COMPOSANTS ÉLECTRONIQUES
Abrégé
(DE)
Ein Handler zum Testen von elektronischen Bauelementen weist eine Beschleunigungsvorrichtung (1) mit einem Stößel (3) auf, der durch mindestens eine Federscheibe (6) linear geführt ist, die zwei Gruppen von Federarmen (9, 11) aufweist, wobei eine Gruppe am Stößel (3) und die andere Gruppe an einem relativ zu einem Gehäuse (21) der Bewegungserzeugungseinrichtung (2) feststehenden Rahmen (7) befestigt ist.
(EN)
The invention relates to a handler for testing electronic components, said handler comprising an acceleration device (1) provided with a tappet (3) which is linearly guided by means of at least one flat spring (6) comprising two groups of spring arms (9, 11), one group being fixed to the tappet (3) and the other group to a frame (7) which is stationary in relation to a housing (21) of the movement generation device (2).
(FR)
Gestionnaire destiné à tester des composants électroniques, comprenant un dispositif d'accélération (1) présentant un poussoir (3), caractérisé en ce que le poussoir (3) est guidé linéairement par au moins un disque élastique (6) comportant deux groupes de bras à ressorts (9, 11), et en ce qu'un groupe est fixé au poussoir (3) et l'autre groupe est fixé à un cadre (7) monté fixe par rapport à un boîtier (21) du dispositif générateur du déplacement (2).
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