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1. (WO2007109322) méthode d'accélération des techniques de diagnostic de défauts
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/109322    N° de la demande internationale :    PCT/US2007/007021
Date de publication : 27.09.2007 Date de dépôt international : 20.03.2007
CIB :
G01R 31/28 (2006.01), G06F 11/00 (2006.01)
Déposants : MENTOR GRAPHICS CORPORATION [US/US]; 8005 S.W. Boeckman Road, D4, Wilsonville, OR 97070-7777 (US) (Tous Sauf US).
ZOU, Wei [CN/US]; (US) (US Seulement).
TANG, Huaxing [CN/US]; (US) (US Seulement).
CHENG, Wu-Tung [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : ZOU, Wei; (US).
TANG, Huaxing; (US).
CHENG, Wu-Tung; (US)
Mandataire : VANCE, A., Jonathan; Klarquist Sparkman, LLP, One World Trade Center, Suite 1600, 121 SW Salmon Street, Portland, OR 97204 (US)
Données relatives à la priorité :
60/784,308 20.03.2006 US
60/850,148 05.10.2006 US
60/891,711 26.02.2007 US
Titre (EN) SPEEDING UP DEFECT DIAGNOSIS TECHNIQUES
(FR) méthode d'accélération des techniques de diagnostic de défauts
Abrégé : front page image
(EN)Fault diagnosis techniques (e.g., effect-cause diagnosis techniques) can be speeded up by, for example, using a relatively small dictionary. Examples describe herein exhibit a speed up of effect-cause diagnosis by up to about 160 times. The technologies can be used to diagnose defects using compacted fail data produced by test response compactors. A dictionary of small size can be used to reduce the size of a fault candidate list and also to facilitate procedures to select a subset of passing patterns for simulation. Critical path tracing can be used to handle failing patterns with a larger number of failing bits, and a pre-computed small dictionary can be used to quickly find the initial candidates for failing patterns with a smaller number of failing bits. Also described herein are exemplary techniques for selecting passin patterns for fault simulation to identify faults in an electronic circuit.
(FR)L'invention concerne les moyens par lesquels les techniques de diagnostic des défauts (e.g., techniques de diagnostic effet-cause) peuvent être accélérées, par exemple par l'utilisation d'un dictionnaire relativement réduit. Les exemples donnés ici montrent une accélération du diagnostic effet-cause pouvant aller jusqu'à 160 fois. Ces technologies peuvent être utilisées pour diagnostiquer des défauts au moyen d'un ensemble de données de défauts compacté produit par les compacteurs de réponse aux essais. On peut utiliser un dictionnaire de petite taille pour réduire la longueur de la liste de défauts candidats et également pour faciliter les procédures de sélection d'un sous-ensemble de profils corrects en vue d'une simulation. On peut utiliser le traçage du chemin critique pour gérer les profils défectueux au moyen d'un nombre plus élevé de bits de défaut, et on peut utiliser un petit dictionnaire précalculé pour trouver rapidement les candidats initiaux ayant des profils défectueux avec un nombre de bits de défaut plus faible. On décrit également ici, à titre d'exemple, des techniques de sélection de profils corrects pour effectuer une simulation de défauts afin d'identifier les défauts dans un circuit électronique.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)