WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2007107892) DISPOSITIF DE DETECTION MICROELECTRONIQUE A RESEAU DE CAPTEURS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/107892    N° de la demande internationale :    PCT/IB2007/050665
Date de publication : 27.09.2007 Date de dépôt international : 01.03.2007
CIB :
C12Q 1/68 (2006.01), G01N 27/414 (2006.01), G01N 33/543 (2006.01)
Déposants : KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1, NL-5621 BA Eindhoven (NL) (Tous Sauf US).
JOHNSON, Mark, T. [GB/NL]; (NL) (US Seulement).
STAPERT, Hendrik, R. [NL/NL]; (NL) (US Seulement).
PONJEE, Marc. W., G. [NL/NL]; (NL) (US Seulement)
Inventeurs : JOHNSON, Mark, T.; (NL).
STAPERT, Hendrik, R.; (NL).
PONJEE, Marc. W., G.; (NL)
Mandataire : SCHOUTEN, Marcus, M.; Prof. Holstlaan 6, NL-5656 AA Eindhoven (NL)
Données relatives à la priorité :
06111438.5 21.03.2006 EP
06111439.3 21.03.2006 EP
06111442.7 21.03.2006 EP
Titre (EN) MICROELECTRONIC SENSOR DEVICE WITH SENSOR ARRAY
(FR) DISPOSITIF DE DETECTION MICROELECTRONIQUE A RESEAU DE CAPTEURS
Abrégé : front page image
(EN)The invention relates to different designs of a microelectronic sensor device comprising an array of heating elements (HE) and an array of sensor elements (SE) that are aligned with respect to each other adjacent to a sample chamber (SC). By applying appropriate currents to the heating elements (HE), the sample chamber can be heated according to a desired temperature profile.
(FR)L'invention concerne plusieurs modes de réalisation d'un dispositif de détection microélectronique, comprenant un réseau d'éléments chauffants (HE) et un réseau d'éléments capteurs (SE) alignés les uns par rapport aux autres en position adjacente à une chambre d'échantillonnage (SC). L'application de courants appropriés aux éléments chauffants (HE) permet de chauffer la chambre d'échantillonnage conformément à un profil de température souhaité.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)