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1. (WO2007106107) ESSAI DE STRUCTURES RÉSONNANTES AU NIVEAU DE LA PLAQUETTE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/106107    N° de la demande internationale :    PCT/US2006/022689
Date de publication : 20.09.2007 Date de dépôt international : 09.06.2006
CIB :
G01N 23/00 (2006.01)
Déposants : VIRGIN ISLANDS MICROSYSTEMS, INC. [US/US]; 9800 Buccanner Mall; Suite 210, St. Thomas, Virgin Islands, 00802 (US) (Tous Sauf US)
Inventeurs : GORRELL, Jonathan; (US)
Mandataire : DAVIDSON, J., Scott; DAVIDSON BERQUIST JACKSON & GOWDEY, LLP, 4300 Wilson Blvd., 7th Floor, Arlington, VA 22203 (US)
Données relatives à la priorité :
60/777,120 28.02.2006 US
11/418,124 05.05.2006 US
Titre (EN) WAFER-LEVEL TESTING OF LIGHT-EMITTING RESONANT STRUCTURES
(FR) ESSAI DE STRUCTURES RÉSONNANTES AU NIVEAU DE LA PLAQUETTE
Abrégé : front page image
(EN)A device for testing a light-emitting resonant structure on a wafer includes a vacuum chamber for holding the resonant structure; a source of charged particles; a electromagnetic radiation detector; a positioning mechanism constructed and adapted control the position of the wafer within the vacuum chamber; and a controller operatively connected to said source of electrons and to said detector and to said positioning mechanism. A voltage source may be provided.
(FR)L'invention concerne un dispositif d'essai appliqué à une structure résonnante électroluminescente montée sur une plaquette. Ce dispositif comprend: une chambre à vide pour contenir la structure résonnante; une source de particules chargées; un détecteur de rayonnement électromagnétique; un système de positionnement conçu et adapté pou vérifier la position de la plaquette dans la chambre à vide; et enfin, une unité de commande connectée de manière fonctionnelle à la fois à la source d'électrons, au détecteur et au système de positionnement. Une source de tension peut également être fournie.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)