WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2007102856) SOURCE DE TENSION/COURANT ET SYSTÈME DE TEST INCORPORANT CELLE-CI
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/102856    N° de la demande internationale :    PCT/US2006/044343
Date de publication : 13.09.2007 Date de dépôt international : 15.11.2006
CIB :
G01R 31/319 (2006.01)
Déposants : TERADYNE, INC. [US/US]; 700 Riverpark Drive, North Reading, MA 01864 (US) (Tous Sauf US).
BALKE, Christian [DE/DE]; (DE).
COSTA, Cristo Da [DE/DE]; (DE) (US Seulement)
Inventeurs : BALKE, Christian; (DE).
COSTA, Cristo Da; (DE)
Mandataire : PYSHER, Paul; FISH & RICHARDSON, P.O. Box 1022, Minneapolis, MN 55440-1022 (US)
Données relatives à la priorité :
06004879.0 09.03.2006 EP
Titre (EN) V/I SOURCE AND TEST SYSTEM INCORPORATING THE SAME
(FR) SOURCE DE TENSION/COURANT ET SYSTÈME DE TEST INCORPORANT CELLE-CI
Abrégé : front page image
(EN)A V/I-source, comprising a diode quad or an equivalent circuit having first through fourth nodes, a first current source connected to a 1st node of said diode quad, a second current source connected to a 2nd node of said diode quad opposite said first node, an op-amp having its output connected to a 3rd node of said diode quad and its non-inverting input being connected to a voltage source a feedback line arranged between a 4th node of said diode quad opposite said 3rd node and said inverting input of said op-amp. Furthermore, A test system for testing electronic devices, incorporating such a V/I-source and a method for providing a V/I-source and for testing an electronic device are provided.
(FR)L'invention concerne une source de tension/courant, comprenant un quadruplé de diodes ou un circuit équivalent comportant quatre nœuds, une première source de courant reliée à un premier nœud dudit quadruplé de diodes, une seconde source de courant reliée à un second nœud dudit quadruplé de diodes opposé audit premier nœud, un amplificateur opérationnel ayant sa sortie reliée à un troisième nœud dudit quadruplé de diodes et son entrée non inverseuse reliée à une source de tension, une ligne de contre-réaction étant disposée entre un quatrième nœud dudit quadruplé de diodes opposé audit troisième nœud et ladite entrée inverseuse dudit amplificateur opérationnel. En outre, l'invention concerne un système de test permettant de tester des composants électroniques, comprenant une telle source tension/courant ainsi qu'un procédé permettant de fournir une source tension/courant et de tester un composant électronique.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)