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1. (WO2007102224) ANALYSEUR DE MASSE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/102224    N° de la demande internationale :    PCT/JP2006/304608
Date de publication : 13.09.2007 Date de dépôt international : 09.03.2006
CIB :
H01J 49/14 (2006.01), G01N 27/62 (2006.01)
Déposants : SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi Kyoto 6048511 (JP) (Tous Sauf US).
KAWANA, Shuichi [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
SHIMOMURA, Manabu [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : KAWANA, Shuichi; (JP).
SHIMOMURA, Manabu; (JP)
Mandataire : KOBAYASI, Ryohei; KOBAYASI PATENT & TRADEMARK, 7th Floor Hougen-Sizyokarasuma Building 37, Motoakuozi-tyo, Higasinotouin Sizyo-sagaru, Simogyo-ku, Kyoto-si Kyoto 6008091 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) MASS ANALYZER
(FR) ANALYSEUR DE MASSE
(JA) 質量分析装置
Abrégé : front page image
(EN)This invention provides a mass analyzer provided with an ion source comprising a filament. An electroconductive heat shielding plate (11) with a thermoelectron passage opening (12) bored therein is inserted into between a filament (3) and an ionization chamber (2). The heat shielding plate (11) is thermally connected through an aluminum block (10) to a heater for regulating the temperature of the ionization chamber (2) to about 200 to 300°C and is electrically set to a ground potential which is substantially the same potential as that of the ionization chamber (2). According to the above constitution, radiation heat generated during lighting of the filament is shielded by the heat shielding plate. This is advantageous in that abnormal heating of a part of the wall surface of the ionization chamber can be eliminated, the inside of the ionization chamber can be maintained at a substantially uniform temperature, and the generation of noise due to the production of metal decomposition products by the abnormal heating can be prevented. Further, since the heat shielding plate prevents the entry of thermoelectron acceleration electric fields into the ionization chamber through the electron incidence port, the take-out of ions produced within the ionization chamber is not inhibited, contributing to improved ion take-out efficiency.
(FR)La présente invention concerne un analyseur de masse muni d'une source d'ions comprenant un filament. Une plaque (11) électroconductrice de blindage contre la chaleur comprenant une ouverture de passage thermoélectronique (12) percé dans celle-ci est insérée entre un filament (3) et une chambre d'ionisation (2). La plaque de blindage contre la chaleur (11) est reliée thermiquement par l'intermédiaire d'un bloc d'aluminium (10) à un dispositif de chauffage afin de réguler la température de la chambre d'ionisation (2) à environ 200 à 300 °C et elle est placée électriquement à un potentiel de masse qui est sensiblement le même potentiel que celui de la chambre d'ionisation (2). Conformément à la constitution ci-dessus, la chaleur par rayonnement, générée durant l'éclairage du filament, est blindée par la plaque de blindage contre la chaleur. Ceci est avantageux en ce qu'un chauffage anormal d'une partie de la surface de paroi de la chambre d'ionisation peut être éliminé, en ce que l'intérieur de la chambre d'ionisation peut être maintenu à une température sensiblement uniforme et en ce que la génération de bruit due à la production de produits de décomposition de métal en raison du chauffage anormal peut être empêchée. En outre, du fait que la plaque de blindage contre la chaleur empêche l'entrée de champs électriques d'accélération thermoélectronique dans la chambre d'ionisation au travers de l'accès d'entrée d'électrons, l'extraction d'ions produits à l'intérieur de la chambre d'ionisation n'est pas empêchée, ce qui contribue à l'amélioration du rendement d'extraction d'ions.
(JA)not available
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)