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1. WO2007099970 - DISPOSITIF DE MESURE, DISPOSITIF D'ESSAI, DISPOSITIF ELECTRONIQUE, PROCEDE DE MESURE, PROGRAMME ET SUPPORT D'ENREGISTREMENT

Numéro de publication WO/2007/099970
Date de publication 07.09.2007
N° de la demande internationale PCT/JP2007/053681
Date du dépôt international 27.02.2007
CIB
G01R 29/02 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
29Dispositions pour procéder aux mesures ou à l'indication de grandeurs électriques n'entrant pas dans les groupes G01R19/-G01R27/165
02Mesure des caractéristiques d'impulsions individuelles, p.ex. de la pente de l'impulsion, du temps de montée ou de la durée
G01R 31/319 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317Tests de circuits numériques
3181Tests fonctionnels
319Matériel de test, c. à d. circuits de traitement de signaux de sortie
CPC
G01R 31/31725
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
31725Timing aspects, e.g. clock distribution, skew, propagation delay
G01R 31/31937
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
319Tester hardware, i.e. output processing circuit
3193with comparison between actual response and known fault free response
31937Timing aspects, e.g. measuring propagation delay
Déposants
  • 株式会社アドバンテスト ADVANTEST CORPORATION [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • ホウ ハリー HOU, Harry [US]/[US] (UsOnly)
  • 山口 隆弘 YAMAGUCHI, Takahiro [JP]/[JP] (UsOnly)
Inventeurs
  • ホウ ハリー HOU, Harry
  • 山口 隆弘 YAMAGUCHI, Takahiro
Mandataires
  • 龍華 明裕 RYUKA, Akihiro
Données relatives à la priorité
11/362,53627.02.2006US
11/550,81119.10.2006US
11/623,10115.01.2007US
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) MEASURING DEVICE, TEST DEVICE, ELECTRONIC DEVICE, MEASURING METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM
(FR) DISPOSITIF DE MESURE, DISPOSITIF D'ESSAI, DISPOSITIF ELECTRONIQUE, PROCEDE DE MESURE, PROGRAMME ET SUPPORT D'ENREGISTREMENT
(JA) 測定装置、試験装置、電子デバイス、測定方法、プログラム、及び記録媒体
Abrégé
(EN)
Provided is a measuring device for measuring a signal to be measured. The measuring device includes: a strobe timing generator for successively generating strobes arranged at a substantially identical time interval; a level comparator for detecting a signal level of the signal to be measured, according to the successively given strobe timing; a capture memory for storing a data string of the signal level successively detected by the level comparator; a window function multiplication unit for multiplying the data string by a window function; a frequency region conversion unit for converting the data string multiplied by the window function into a spectrum of the frequency region; and an instantaneous phase noise calculation unit for calculating an instantaneous phase noise in the time axis of the signal to be measured, according to the spectrum.
(FR)
La présente invention concerne un dispositif de mesure destiné à mesurer un signal à mesurer. Le dispositif de mesure comprend : un générateur de synchronisation d'échantillonnage destiné à générer successivement des signaux d'échantillonnage espacés selon des intervalles de temps essentiellement identiques; un comparateur de niveau destiné à détecter un niveau de signal du signal à mesurer, selon la synchronisation d'échantillonnage successivement donnée; une mémoire de capture destinée à stocker une chaîne de données du niveau de signal successivement détecté par le comparateur de niveau; une unité de multiplication de fonction de fenêtre destinée à multiplier la chaîne de données par une fonction de fenêtre; une unité de conversion de région de fréquence destinée à convertir la chaîne de données multipliée par la fonction de fenêtre en un spectre de la région de fréquence; et une unité de calcul de bruit de phase instantané destinée à calculer un bruit de phase instantané dans l'axe des temps du signal à mesurer, selon le spectre.
(JA)
 被測定信号を測定する測定装置であって、略等時間間隔に配置されたストローブを順次生成するストローブタイミング発生器と、順次与えられるストローブのタイミングに応じて、被測定信号の信号レベルを検出するレベル比較部と、レベル比較部が順次検出する信号レベルのデータ列を格納するキャプチャメモリと、データ列に窓関数を乗算する窓関数乗算部と、窓関数が乗算されたデータ列を周波数領域のスペクトラムに変換する周波数領域変換部と、スペクトラムに基づいて、被測定信号の時間軸における瞬時位相雑音を算出する瞬時位相雑音算出部とを備える測定装置を提供する。
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