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1. WO2007099791 - INSTRUMENT ET PROCEDE DE MESURE

Numéro de publication WO/2007/099791
Date de publication 07.09.2007
N° de la demande internationale PCT/JP2007/052844
Date du dépôt international 16.02.2007
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 21.09.2007
CIB
G01N 21/23 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
21Propriétés affectant la polarisation
23Biréfringence
CPC
G01J 4/04
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
4Measuring polarisation of light
04Polarimeters using electric detection means
G01N 21/21
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
21Polarisation-affecting properties
G01N 21/23
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
21Polarisation-affecting properties
23Bi-refringence
Déposants
  • 国立大学法人東京農工大学 National University Corporation Tokyo University of Agriculture and Technology [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • 大谷 幸利 OTANI, Yukitoshi [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 安里 直樹 ASATO, Naoki [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 若山 俊隆 WAKAYAMA, Toshitaka [JP]/[JP] (UsOnly)
Inventeurs
  • 大谷 幸利 OTANI, Yukitoshi
  • 安里 直樹 ASATO, Naoki
  • 若山 俊隆 WAKAYAMA, Toshitaka
Mandataires
  • 大渕 美千栄 OFUCHI, Michie
Données relatives à la priorité
2006-05415328.02.2006JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) MEASURING INSTRUMENT AND MEASURING METHOD
(FR) INSTRUMENT ET PROCEDE DE MESURE
(JA) 計測装置及び計測方法
Abrégé
(EN)
An instrument for measuring the polarization state of analysis object light comprises a modulating section (20) including a retarder (22) and an analyzer (24), a light intensity information acquiring section (30) for acquiring the light intensity information of modulation light obtained by modulating the analysis object light at the modulating section, and a processing section (50) for calculating the polarization characteristic element of the analysis object light based on the light intensity information. The light intensity information acquiring section acquires the light intensity information of first through N-th modulation light obtained by modulating the analysis object light at the modulating section where at least one of the the main axis orientations of retarder and the analyzer is set to different conditions of first through N-th main axis orientations. The processing section performs processing for calculating the polarization characteristic element based on the theoretical formula of the light intensity of first through N-th modulation light, and the light intensity information of first through N-th modulation light.
(FR)
La présente invention concerne un instrument destiné à mesurer l'état de polarisation d'une lumière d'objet d'analyse comprenant une unité de modulation (20) avec un retardateur (22) et un analyseur (24), une unité d'acquisition de données d'intensité lumineuse (30) qui acquiert des données d'intensité d'une lumière obtenue par modulation de la lumière d'objet d'analyse par l'unité de modulation, et une unité de traitement (50) qui calcule une caractéristique de polarisation de la lumière d'objet d'analyse selon les données d'intensité lumineuse. L'unité d'acquisition de données d'intensité lumineuse acquiert les données d'intensité lumineuse d'une première à une nième lumière de modulation obtenue par modulation de la lumière d'objet d'analyse par l'unité de modulation, au moins une des orientations d'axe principal du retardateur et de l'analyseur étant différente des première à nième orientations d'axe principal. L'unité de traitement effectue un traitement pour calculer une caractéristique de polarisation sur la base de la formule théorique de l'intensité lumineuse des première à nième lumières de modulation et des données d'intensité de ces lumières.
(JA)
計測装置は、分析の対象である分析対象光の偏光状態を計測する装置であって、リターダ22及び検光子24を含む変調部20と、変調部で分析対象光を変調させることによって得られる変調光の光強度情報を取得する光強度情報取得部30と、光強度情報に基づいて分析対象光の偏光特性要素を算出する演算処理部50と、を含む。光強度情報取得部は、リターダ及び検光子の主軸方位の少なくとも一方が異なる第1~第Nの主軸方位条件に設定された変調部で分析対象光を変調させることによって得られる第1~第Nの変調光の光強度情報を取得する。演算処理部は、第1~第Nの変調光の光強度の理論式と、第1~第Nの光強度情報とに基づいて、偏光特性要素算出処理を行う。
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