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1. (WO2007098805) SURVEILLANCE DE PARAMÈTRES PHYSIQUES DANS UN ENVIRONNEMENT D'ÉMULATION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/098805    N° de la demande internationale :    PCT/EP2006/060335
Date de publication : 07.09.2007 Date de dépôt international : 28.02.2006
CIB :
G06F 11/26 (2006.01)
Déposants : MENTOR GRAPHICS CORP. [US/US]; 8005 Sw Boeckman Drive, Wilsonville, Oregon 97070-7777 (US) (Tous Sauf US).
DURAND, Eric [FR/FR]; (FR) (US Seulement).
JOUBERT, Christophe [FR/FR]; (FR) (US Seulement).
NIQUET, Christian [FR/FR]; (FR) (US Seulement).
VOIRIN, Virginie [FR/FR]; (FR) (US Seulement)
Inventeurs : DURAND, Eric; (FR).
JOUBERT, Christophe; (FR).
NIQUET, Christian; (FR).
VOIRIN, Virginie; (FR)
Mandataire : FRANZOLIN, Luigi; STUDIO TORTA S.r.l., Via Viotti, 9, I-10121 Torino (IT)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) MONITORING PHYSICAL PARAMETERS IN AN EMULATION ENVIRONMENT
(FR) SURVEILLANCE DE PARAMÈTRES PHYSIQUES DANS UN ENVIRONNEMENT D'ÉMULATION
Abrégé : front page image
(EN)A method and system is disclosed for monitoring and viewing physical parameters while the emulator is emulating a design. Additionally, the parameters are in real time or substantially real time, such as after a periodic update. In one embodiment, a monitoring portion of the emulator periodically monitors the emulator boards and power supplies for physical information. The physical information is communicated to a workstation for communication to a user. For example, the workstation can display the physical information in a graphical user interface (GUI) that shows which boards are plugged in the system and which slots are empty. In yet another aspect, the user can select a particular board in the system and view communication information, such as data errors, status, link errors, global errors, etc. In a further aspect, power supply information can be viewed, such as current and voltage levels, air temperature, fan speed, board temperatures at particular points, etc. In another aspect, the IC layout on a board can be viewed with a graphical presentation of which ICs are malfunctioning. Even further, the sections within a particular IC can be viewed with a graphical presentation of sections within the IC that are malfunctioning.
(FR)L'invention concerne un procédé et un système de surveillance et de visualisation de paramètres physiques lors de l'émulation d'une configuration par un émulateur. Les paramètres sont, de plus, en temps réel ou sensiblement en temps réel, par exemple après une mise à jour périodique. Dans un mode de réalisation, une section de surveillance de l'émulateur surveille de façon périodique les cartes et alimentations de l'émulateur pour obtenir des informations physiques. Les informations physiques sont transmises à une station de travail pour être communiquées à un utilisateur. La station de base peut, par exemple, afficher les informations physiques sur une interface utilisateur graphique (GUI) montrant quelles cartes sont connectées au système et quelles fentes sont vides. Dans un autre aspect, l'utilisateur peut sélectionner une carte particulière du système et visualiser des informations de communication, telles que les erreurs de données, l'état, les erreurs de liaison, les erreurs globales, etc.. Dans un autre aspect, des information d'alimentation peuvent être visualisées, telles que les niveaux de courant et de tension, la température de l'air, la vitesse du ventilateur, les températures des cartes au niveau de points particuliers, etc.. Dans un autre aspect, la configuration de la carte de circuit intégré peut être visualisée avec une présentation graphique indiquant quels circuits intégrés sont défectueux. Les sections d'un circuit intégré particulier peuvent être visualisées avec une présentation graphique des sections défectueuses du circuit intégré.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)