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1. (WO2007097224) PROCEDE D'ESTIMATION D'ETAT QUANTIQUE, DISPOSITIF D'ESTIMATION D'ETAT QUANTIQUE ET PROGRAMME INFORMATIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/097224    N° de la demande internationale :    PCT/JP2007/052483
Date de publication : 30.08.2007 Date de dépôt international : 13.02.2007
CIB :
G06F 19/00 (2011.01)
Déposants : OSAKA UNIVERSITY [JP/JP]; 1-1, Yamadaoka, Suita-shi, Osaka 5650871 (JP) (Tous Sauf US).
KASAI, Hideaki; (US Seulement).
NAKANISHI, Hiroshi; (US Seulement)
Inventeurs : KASAI, Hideaki; .
NAKANISHI, Hiroshi;
Mandataire : KOHNO, Takao; KOHNO PATENT OFFICE, 4-3, Tsuriganecho 2-chome, Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5400035 (JP)
Données relatives à la priorité :
2006-045599 22.02.2006 JP
Titre (EN) QUANTUM STATE ESTIMATION METHOD, QUANTUM STATE ESTIMATION DEVICE AND COMPUTER PROGRAM
(FR) PROCEDE D'ESTIMATION D'ETAT QUANTIQUE, DISPOSITIF D'ESTIMATION D'ETAT QUANTIQUE ET PROGRAMME INFORMATIQUE
(JA) 量子状態推定方法、量子状態推定装置及びコンピュータプログラム
Abrégé : front page image
(EN)A quantum state estimation method and a quantum state estimation device for estimating the quantum state of an atom or a molecule adsorbed onto the surface of a substance precisely. A computer program is also provided. A control section (10) divides the surface of an adsorbing substance virtually into a plurality of regions (cells) as instructed by a computer program (50). The control section (10) also assigns a normal distribution function to each divided cell and sets the linear coupling of the normal distribution function assigned to each cell to a trial function. Furthermore, the control section (10) solves a Schrodinger equation based on the potential on the surface of the adsorbing substance and calculates a wave function. Based on the wave function thus calculated, quantum state of an atom or a molecule adsorbed onto the surface of the adsorbing substance is estimated. Since contribution by the potential in each cell to an adsorbed atom or molecule is not neglected, estimation precision of the quantum state of an adsorbed atom or molecule is enhanced.
(FR)La présente invention concerne un procédé d'estimation d'état quantique et un dispositif d'estimation d'état quantique destinés à estimer précisément l'état quantique d'un atome ou d'une molécule adsorbé sur la surface d'une substance. L'invention concerne également un programme informatique. Une section de commande (10) divise virtuellement la surface d'une substance adsorbante en une pluralité de régions (cellules) tel qu'indiqué par un programme informatique (50). La section de contrôle (10) affecte également une fonction de distribution normale à chaque cellule divisée et définit sur une fonction d'essai le couplage linéaire de la fonction de distribution normale affectée à chaque cellule. En outre, la section de commande (10) résout une équation de Schrödinger en fonction du potentiel présent sur la surface de la surface adsorbante et calcule une fonction d'onde. En fonction de la fonction d'onde ainsi calculée, on estime l'état quantique d'un atome ou d'une molécule adsorbé sur la surface de la substance adsorbante. Du fait qu'on ne néglige pas la contribution par le potentiel de chaque cellule à un atome ou une molécule adsorbé, on améliore la précision d'estimation de l'état quantique d'un atome ou d'une molécule adsorbé.
(JA) 物質の表面上に吸着する原子又は分子の量子状態を精度良く推定することができる量子状態推定方法、量子状態推定装置及びコンピュータプログラムを提供する。  制御部10がコンピュータプログラム50に従って、被吸着物質の表面を仮想的に複数の領域(セル)に分割する。また、制御部10は、分割された各セルに対して正規分布関数を割り当て、各セルに割り当てた正規分布関数の線形結合を試行関数に設定する。さらに、制御部10は、数値変分法によって、被吸着物質の表面上におけるポテンシャルに基づくシュレディンガー方程式を解いて波動関数を算出する。そして、算出した波動関数に基づいて、被吸着物質の表面上に吸着する原子又は分子の量子状態を推定する。各セルにおけるポテンシャルによる吸着原子又は吸着分子への寄与が無視されることがなくなり、吸着原子又は吸着分子の量子状態の推定精度が向上する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)