WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2007097135) DETECTEUR DE DEPLACEMENT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/097135    N° de la demande internationale :    PCT/JP2007/050366
Date de publication : 30.08.2007 Date de dépôt international : 05.01.2007
CIB :
G01B 5/00 (2006.01)
Déposants : Tokyo Seimitsu Co., Ltd. [JP/JP]; 7-1, Shimorenjaku 9-chome, Mitaka-shi, Tokyo 1818515 (JP) (Tous Sauf US).
TAKANASHI, Ryo [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : TAKANASHI, Ryo; (JP)
Mandataire : AOKI, Atsushi; SEIWA PATENT & LAW Toranomon 37 Mori Bldg. 5-1, Toranomon 3-chome Minato-ku, Tokyo 1058423 (JP)
Données relatives à la priorité :
2006-045334 22.02.2006 JP
Titre (EN) DISPLACEMENT DETECTOR
(FR) DETECTEUR DE DEPLACEMENT
(JA) 変位検出器
Abrégé : front page image
(EN)A displacement detector capable of, without requiring switchover operation, measurement in two directions which differ by 180°. The displacement detector comprises a contact arm (41) supported at an extended rotating fulcrum (43); first and second contacts (42A, 42B) provided on the contact arm; first and second arms (21A, 21B) supported at a rotating fulcrum (23) and having one ends in contact with the contact arm (41); a first detection element (25) for the first arm; a second detection element (26) for the second arm; a detection part for detecting the positional relation between the first and second detection elements; a first biasing means (24A) for the first arm; a second biasing means (24B) for the second arm; a first stopper (30A) for the first arm; and a second stopper (30B) for the second arm. When the contact arm is rotated from a reference rotating position in a first or a second direction in such a state that the first and second arms are brought into contact with the first and second stoppers and the contact arm, the first and second arms are brought into a free state.
(FR)La présente invention concerne un détecteur de déplacement capable, sans nécessiter d'opération de commutation, de mesurer dans deux directions qui diffèrent de 180 °. Le détecteur de déplacement comprend un bras de contact (41) supporté au niveau d'un point de pivotement rotatif étendu (43) ; des premier et second contacts (42A, 42B) prévus sur le bras de contact ; des premier et second bras (21A, 21B) qui sont supportés au niveau d'un point de pivotement rotatif (23) et qui possèdent une extrémité en contact avec le bras de contact (41) ; un premier élément de détection (25) pour le premier bras ; un second élément de détection (26) pour le second bras ; une partie de détection pour détecter la relation positionnelle entre les premier et second éléments de détection ; un premier moyen de sollicitation (24A) pour le premier bras ; un second moyen de sollicitation (24B) pour le second bras ; une première butée (30A) pour le premier bras ; et une seconde butée (30B) pour le second bras. Lorsque le bras de contact est tourné à partir d'une position rotative de référence dans une première ou une seconde direction dans un état tel que les premier et second bras sont mis en contact avec les première et seconde butées et le bras de contact, les premier et second bras sont mis dans un état libre.
(JA)切り替え操作を必要とせずに180度異なる2つの測定方向の測定が可能な変位検出器が開示されている。この変位検出器は、延伸回転支点43に支持された接触アーム41と、接触アームに設けられた第1及び第2接触子42A,42Bと、回転支点23に支持され、一方の端が接触アーム41に接触する第1及び第2アーム21A,21Bと、第1アームの第1検出要素25と、第2アームの第2検出要素26と、第1と第2検出要素の位置関係を検出する検出部と、第1アームの第1付勢手段と24A、第2アームの第2付勢手段24Bと、第1アームの第1ストッパ30Aと、第2アームの第2ストッパ30Bと、を備え、基準回転位置は第1及び第2アームが第1及び第2ストッパに接触し且つ接触アームに接触した状態で、接触アームが基準回転位置から第1又は第2方向に回転すると、第1又は第2アームが自由状態になる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)