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1. (WO2007090460) CALCULATEUR DE TEMPS D'ESSAI
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/090460    N° de la demande internationale :    PCT/EP2006/050699
Date de publication : 16.08.2007 Date de dépôt international : 06.02.2006
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    05.02.2007    
CIB :
G01R 31/28 (2006.01)
Déposants : VERIGY (SINGAPORE) PTE. LTD. [SG/SG]; No. 1 Yishun Ave 7, Lot 1937C, 1935X, 1975P, Singapore 768923 (SG) (Tous Sauf US).
WEYH, Andree [DE/DE]; (DE) (US Seulement)
Inventeurs : WEYH, Andree; (DE)
Mandataire : SCHOPPE, ZIMMERMANN, STÖCKELER & ZINKLER; P.O. Box 246, 82043 Pullach (DE)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) TEST TIME CALCULATOR
(FR) CALCULATEUR DE TEMPS D'ESSAI
Abrégé : front page image
(EN)An apparatus (100) for estimating a duration of a test of a device under test (204) to be performed by a test device (200), the apparatus (100) comprising an input unit (101) adapted for receiving test information indicative of the test to be performed, and a processing unit (102) adapted to estimate the duration of the test of the device under test (204) performed by the test device (200) based on the received test information and based on a model characterizing the test.
(FR)L'invention concerne un appareil (100) servant à estimer la durée d'un essai d'un dispositif à l'essai (204), ledit essai devant être réalisé par un dispositif d'essai (200). L'appareil comprend une unité d'entrée (101) conçue pour recevoir des informations d'essai indicatrices de l'essai à réaliser, et une unité de traitement (102) conçue pour estimer la durée de l'essai du dispositif à l'essai (204) réalisé par le dispositif d'essai (200) sur la base des informations d'essai reçues et d'un modèle caractérisant l'essai.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)