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1. (WO2007090447) TESTEUR À PATTES POUR CONTRÔLER DES CARTES DE CIRCUITS IMPRIMÉS NON ÉQUIPÉES ET PROCÉDÉ DE CONTRÔLE DE CARTES DE CIRCUITS IMPRIMÉS NON ÉQUIPÉES AVEC UN TESTEUR À PATTES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/090447    N° de la demande internationale :    PCT/EP2006/010964
Date de publication : 16.08.2007 Date de dépôt international : 15.11.2006
CIB :
G01R 1/067 (2006.01), G01R 31/28 (2006.01)
Déposants : ATG LUTHER & MAELZER GMBH [DE/DE]; Zum Schlag 3, 97877 Wertheim/Reicholzheim (DE) (Tous Sauf US).
ROMANOV, Victor [RU/DE]; (DE) (US Seulement)
Inventeurs : ROMANOV, Victor; (DE)
Mandataire : GANAHL, Bernhard; Huber & Schüssler, Truderinger Str. 246, 81825 München (DE)
Données relatives à la priorité :
10 2006 006 255.8 10.02.2006 DE
Titre (DE) FINGERTESTER ZUM PRÜFEN VON UNBESTÜCKTEN LEITERPLATTEN UND VERFAHREN ZUM PRÜFEN UNBESTÜCKTER LEITERPLATTEN MIT EINEM FINGERTESTER
(EN) FINGER TESTER FOR TESTING UNPOPULATED PRINTED CIRCUIT BOARDS AND METHOD FOR TESTING UNPOPULATED PRINTED CIRCUIT BOARDS USING A FINGER TESTER
(FR) TESTEUR À PATTES POUR CONTRÔLER DES CARTES DE CIRCUITS IMPRIMÉS NON ÉQUIPÉES ET PROCÉDÉ DE CONTRÔLE DE CARTES DE CIRCUITS IMPRIMÉS NON ÉQUIPÉES AVEC UN TESTEUR À PATTES
Abrégé : front page image
(DE)Die vorliegende Erfindung betrifft einen Fingerstester zum Prüfen von unbestückten Leiterplatten mit zumindest zwei Prüffingern (1), die jeweils eine Prüfsonde (2) besitzen, wobei oberhalb einer jeden Prüfsonde (2) je eine Detektionseinrichtung (20) zum optischen Erfassen der Position von zumindest einer Kontaktspitze der Prüfsonde (2) vorhanden ist. Die Detektionseinrichtungen (20) der zumindest zwei Prüfsonden (1) sind in unterschiedlichen vertikal beabstandeten Ebenen angeordnet, so dass zumindest Bereiche der Detektionseinrichtungen (20), die oberhalb der Prüffinger (2) angeordnet sind, vertikal fluchtend berührungslos übereinander positionierbar sind.
(EN)The present invention relates to a finger tester which is intended to test unpopulated printed circuit boards and has at least two test fingers (1) each having a test probe (2), wherein a respective detection device (20) for optically detecting the position of at least one contact tip of the test probe (2) is provided above each test probe (2). The detection devices (20) of the at least two test probes (2) are arranged on different planes which are at a distance from one another in the vertical direction, with the result that at least regions of the detection devices (20), which are arranged above the test fingers (1), can be contactlessly positioned above one another such that they are vertically aligned.
(FR)La présente invention concerne un testeur à pattes pour contrôler des cartes de circuits imprimés non équipées comprenant au moins deux pattes de contrôle (1) qui possèdent respectivement une sonde de contrôle (2). Un dispositif de détection (20) destiné à la détection optique de la position d'au moins une pointe de contact de la sonde de contrôle (2) se trouve au-dessus de chaque sonde de contrôle (2). Les dispositifs de détection (20) desdites sondes de contrôle (1) se trouvent dans des plans différents, verticalement éloignés l'un de l'autre, de sorte qu'au moins les zones des dispositifs de détection (20) qui se trouvent au-dessus des pattes de contrôle (2) puissent être positionnées l'une au-dessus de l'autre sans contact et alignées dans le sens vertical.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)