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1. (WO2007088934) SOURCE DE RAYONS X ET DISPOSITIF D'ANALYSE DE RAYONS X FLUORESCENTS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/088934    N° de la demande internationale :    PCT/JP2007/051710
Date de publication : 09.08.2007 Date de dépôt international : 01.02.2007
CIB :
H01J 35/08 (2006.01), G01N 23/223 (2006.01), H01J 35/10 (2006.01), H01J 35/18 (2006.01), H01J 35/26 (2006.01)
Déposants : Toshiba Electron Tubes & Devices Co., Ltd. [JP/JP]; 1385, Shimoishigami, Otawara-shi, Tochigi 3248550 (JP) (Tous Sauf US).
AOKI, Nobutada [JP/JP]; (US Seulement).
KAKUTANI, Akiko [JP/JP]; (US Seulement)
Inventeurs : AOKI, Nobutada; .
KAKUTANI, Akiko;
Mandataire : SUZUYE, Takehiko; c/o SUZUYE & SUZUYE, 1-12-9 Toranomon, Minato-ku, Tokyo 1050001 (JP)
Données relatives à la priorité :
2006-024071 01.02.2006 JP
2006-024261 01.02.2006 JP
Titre (EN) X-RAY SOURCE, AND FLUORESCENT X-RAY ANALYZING DEVICE
(FR) SOURCE DE RAYONS X ET DISPOSITIF D'ANALYSE DE RAYONS X FLUORESCENTS
(JA) X線源及び蛍光X線分析装置
Abrégé : front page image
(EN)Provided are an X-ray source for emitting a characteristic X-ray, and a fluorescent X-ray analyzing device using the X-ray source. A secondary target (119) is superimposed on a primary target (118). An electron beam (115) generated by an electron gun (114) is incident on the primary target (118), and this primary target (118) transmits and emits a continuous X-ray. The second target (119) transmits and emits a characteristic X-ray (121), which is excited with the continuous X-ray emitted from the primary target (118). The primary target (118) and the secondary target (119) are superimposed to make the continuous X-ray emitted from the primary target (118), efficient for the excitation of the secondary target (119) thereby to generate the characteristic X-ray (121) efficiently.
(FR)La présente invention concerne une source de rayons X servant à émettre un rayon X caractéristique, ainsi qu'un dispositif d'analyse de rayons X fluorescents utilisant la source de rayons X. Une cible secondaire (119) est superposée sur une cible primaire (118). Un faisceau électronique (115) généré par un canon à électrons (114) est incident sur la cible primaire (118), et cette cible primaire (118) transmet et émet un rayon X continu. La seconde cible (119) transmet et émet un rayon X caractéristique (121), qui est excité par le rayon X continu émis à partir de la cible primaire (118). La cible primaire (118) et la cible secondaire (119) sont superposées afin de rendre le rayon X continu émis à partir de la cible primaire (118) efficace pour l'excitation de la cible secondaire (119) afin de générer ainsi de manière efficace le rayon X caractéristique (121).
(JA)not available
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)