WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2007088772) SONDE À ULTRASON
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/088772    N° de la demande internationale :    PCT/JP2007/051191
Date de publication : 09.08.2007 Date de dépôt international : 25.01.2007
CIB :
H04R 17/00 (2006.01), A61B 8/00 (2006.01)
Déposants : MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD. [JP/JP]; 1006, Oaza Kadoma, Kadoma-shi, Osaka 5718501 (JP) (Tous Sauf US).
SAITO, Koetsu; (US Seulement)
Inventeurs : SAITO, Koetsu;
Mandataire : ICHIKAWA, Toshimitsu; Eikoh Patent Office 7-13, Nishi-Shimbashi 1-chome Minato-ku, Tokyo 1050003 (JP)
Données relatives à la priorité :
2006-023169 31.01.2006 JP
2006-023170 31.01.2006 JP
Titre (EN) ULTRASONIC PROBE
(FR) SONDE À ULTRASON
(JA) 超音波探触子
Abrégé : front page image
(EN)It is possible to provide an ultrasonic probe capable of eliminating difficulty of machining, increasing the ultrasonic wave directivity width, and obtaining a diagnosis image of high resolution. The ultrasonic probe (10) includes: a plurality of piezoelectric elements (1) arranged in an order; acoustic matching layers (2) corresponding to the respective piezoelectric elements (1) and arranged in the front surface in the thickness direction, i.e., the examinee side (above in the figure); a rear surface load material (3) arranged, if necessary, at the rear surface in the thickness direction (below in the figure), i.e., the opposite side of the acoustic matching layer (2) with respect to the piezoelectric elements (1); and an acoustic lens (4) arranged, if necessary, on the acoustic matching layer (2). The acoustic matching layer (2) is formed by a rubber elastic material and arranged as a unitary flat member at one side of the plurality of piezoelectric elements (1).
(FR)L'objet de l'invention est une sonde à ultrason réduisant la complexité de l'usinage, augmentant la directivité de l'onde ultrasonore et permettant une image haute résolution pour diagnostic. La sonde à ultrason (10) comprend : de multiples éléments piézo-électriques (1) disposés en un certain ordre; des couches d'adaptation acoustique (2) correspondant aux éléments piézo-électriques (1) respectifs et disposées dans la surface frontale dans le sens de l'épaisseur, autrement dit sur le côté examiné (en haut dans la figure); un matériau de charge de surface arrière (3) disposé, si nécessaire, au niveau de la surface arrière dans le sens de l'épaisseur (en bas dans la figure), autrement dit le côté opposé de la couche d'adaptation acoustique (2) par rapport aux éléments piézo-électriques (1); et une lentille acoustique (4) disposée, si nécessaire, sur la couche d'adaptation acoustique (2). La couche d'adaptation acoustique (2) est formée d'un matériau élastique de type caoutchouc et disposée en tant qu'élément unitaire plat au niveau d'un côté des multiples éléments piézo-électriques (1).
(JA) 本発明は、加工の困難さを解消するとともに、超音波の指向性を広くすることができ、高分解能の診断画像を得ることができる超音波探触子を提供することを目的とする。  超音波探触子10は、配列された複数の圧電素子1と、各圧電素子1に対応して被検体側(図の上方)となる厚さ方向前面に配置された音響マッチング層2と、必要に応じて圧電素子1に対して音響マッチング層2の反対側となる厚さ方向背面(図の下方)に配置された背面負荷材3と、必要に応じて音響マッチング層2上に配置された音響レンズ4から構成されている。音響マッチング層2は、ゴム弾性体材料からなり、複数の圧電素子1の片側に、分割されることなく平面状に設けられる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)