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1. (WO2007088672) CIRCUIT OSCILLANT EN ANNEAU, CIRCUIT DE MESURE DU TEMPS DIFFÉRÉ, CIRCUIT GÉNÉRATEUR DE SIGNAL D'HORLOGE, DÉTECTEUR D'IMAGE, CIRCUIT GÉNÉRATEUR D'IMPULSIONS, CIRCUIT INTÉGRÉ À SEMI-CONDUCTEURS ET MÉTHODE D'ESSAI
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/088672    N° de la demande internationale :    PCT/JP2006/323941
Date de publication : 09.08.2007 Date de dépôt international : 30.11.2006
CIB :
G01R 29/02 (2006.01), G01R 31/28 (2006.01), H03K 3/03 (2006.01)
Déposants : Sharp Kabushiki Kaisha [JP/JP]; 22-22, Nagaike-cho, Abeno-ku, Osaka-shi, Osaka 5458522 (JP) (Tous Sauf US).
SHIMAMOTO, Yukihiro [JP/--]; (US Seulement)
Inventeurs : SHIMAMOTO, Yukihiro;
Mandataire : MASAKI, Yoshifumi; Yodoyabashi NAO Bldg. 7F 3-6, Imabashi 4-chome Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5410042 (JP)
Données relatives à la priorité :
2006-025188 02.02.2006 JP
2006-220184 11.08.2006 JP
Titre (EN) RING OSCILLATING CIRCUIT, DELAYED TIME MEASURING CIRCUIT, TEST CIRCUIT, CLOCK SIGNAL GENERATING CIRCUIT, IMAGE SENSOR, PULSE GENERATING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD
(FR) CIRCUIT OSCILLANT EN ANNEAU, CIRCUIT DE MESURE DU TEMPS DIFFÉRÉ, CIRCUIT GÉNÉRATEUR DE SIGNAL D'HORLOGE, DÉTECTEUR D'IMAGE, CIRCUIT GÉNÉRATEUR D'IMPULSIONS, CIRCUIT INTÉGRÉ À SEMI-CONDUCTEURS ET MÉTHODE D'ESSAI
(JA) リング発振回路、遅延時間測定回路、テスト回路、クロック発生回路、イメージセンサ、パルス発生回路、半導体集積回路、及び、そのテスト方法
Abrégé : front page image
(EN)A ring oscillating circuit is provided to perform a stably continuous ring oscillating operation by positive feedback and its highly precise timing measurement is applied to accurate measurement of delayed time, jitters in a clock signal, or the like. A ring oscillating circuit (1) is composed of a delay circuit (2) and a one-shot multivibrator (3). An output of the delay circuit (1) is connected to an input of the one-shot multivibrator (3) and an output of the one-shot multivibrator (3) is connected to an input of the delay circuit (1), so that the delay circuit (2) and the one-shot multivibrator (3) form a positive feedback loop. A oscillation starting-up circuit (4) which accepts an trigger pulse input for starting-up oscillation and starts up the oscillation is provided on the positive feedback loop or in the inside of the delay circuit (2) and the one-shot multivibrator (3).
(FR)L'invention concerne un circuit oscillant à anneau effectuant en continu et de manière stable une opération d'oscillation d'anneau par rétroaction positive, la mesure de synchronisation extrêmement précise qu'il génère étant appliquée pour mesurer avec précision le temps différé, la gigue dans un signal d'horloge et analogue. Le circuit oscillant à anneau (1) est constitué d'un circuit retard (2) et d'un circuit multivibrateur monostable (3). Une sortie du circuit de retard (1)est connecté à une entrée du circuit vibrateur monostable (3) et une sortie du circuit multivibrateur monostable (3) est connectée à une entrée du circuit retard (1) de sorte que le circuit retard (2) et le circuit multivibrateur monostable (3) forment une boucle de rétroaction positive. Un circuit de démarrage à oscillation (4) qui accepte une entrée d'impulsion de déclenchement pour l'oscillation de lancement et démarre l'oscillation est intégré à la boucle de rétroaction positive ou à l'intérieur du circuit retard (2) et du circuit multivibrateur monostable (3).
(JA)  安定的に継続して正帰還によるリング発振動作可能なリング発振回路を提供し、正確な遅延時間測定、クロック信号のジッタ等のタイミング精度の高精度な測定に応用する。リング発振回路1を、遅延回路2と単安定マルチバイブレータ3を備えて構成する。遅延回路2の出力が単安定マルチバイブレータ3の入力に接続し、単安定マルチバイブレータ3の出力が遅延回路2の入力に接続することで、遅延回路2と単安定マルチバイブレータ3が正帰還ループを構成する。発振起動用のトリガーパルス入力を受け付けて発振を起動する発振起動回路4が、正帰還ループ上、或いは、遅延回路2と単安定マルチバイブレータ3の内部に設けられている。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)