WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2007086214) TESTEUR ET DISPOSITIF DE SÉLECTION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/086214    N° de la demande internationale :    PCT/JP2006/325418
Date de publication : 02.08.2007 Date de dépôt international : 20.12.2006
CIB :
G11C 29/44 (2006.01), G01R 31/28 (2006.01), G11C 16/02 (2006.01), G11C 16/06 (2006.01)
Déposants : ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP) (Tous Sauf US).
DOI, Masaru [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : DOI, Masaru; (JP)
Mandataire : RYUKA, Akihiro; 5F, Shinjuku Square Tower 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome Shinjuku-ku, Tokyo 1631105 (JP)
Données relatives à la priorité :
2006-015627 24.01.2006 JP
Titre (EN) TESTER AND SELECTOR
(FR) TESTEUR ET DISPOSITIF DE SÉLECTION
(JA) 試験装置および選択装置
Abrégé : front page image
(EN)A tester for testing a memory under test having blocks and a repair column. The tester comprises a test unit, a flag memory storing a flag indicating whether each column is good or defective, a count memory for storing number of blocks defective in each column, a fail write section for writing a flag indicating a defective in a flag memory if the test result shows a defective and if the flag in the flag memory about the corresponding column shows a defective, a count section for incrementing the number of blocks of the count memory about the corresponding column if the test result shows a defective and if a flag indicating a defective is not stored about the corresponding column, and a selecting section for selecting a column to be replaced with a repair column according to the number of blocks defective in each column.
(FR)L'invention concerne un testeur permettant de tester une mémoire testée comportant des blocs et une colonne de réparation. Le testeur comprend une unité de test, une mémoire d'indicateurs mémorisant un indicateur indiquant si chaque colonne est bonne ou défectueuse, une mémoire de comptage permettant de mémoriser un certain nombre de blocs défectueux dans chaque colonne, une section d'écriture de défaillance permettant d'écrire un indicateur indiquant un défaut dans une mémoire d'indicateurs si le résultat de test indique un défaut et si l'indicateur dans la mémoire d'indicateurs sur la colonne correspondante indique un défaut, une section de comptage permettant d'incrémenter le nombre de blocs de la mémoire de comptage au sujet de la colonne correspondante si le résultat de test indique un défaut et si un indicateur indiquant un défaut n'est pas mémorisé au sujet de la colonne correspondante, ainsi qu'une section de sélection permettant de sélectionner une colonne à remplacer par une colonne de réparation en fonction du nombre de blocs défectueux dans chaque colonne.
(JA) 複数のブロックとリペア用カラムとを備える被試験メモリを試験する試験装置であって、試験部と、カラム毎の良否を示すフラグを記憶するフラグメモリと、カラム毎の不良ブロック数を記憶するカウントメモリと、試験結果が不良であること、および、対応するカラムについてのフラグメモリ内のフラグが不良を示すことのいずれかを満たすことを条件として、不良を示すフラグをフラグメモリに書き込むフェイル書込部と、試験結果が不良であり、かつ、対応するカラムについてフラグメモリ内に不良を示すフラグが記憶されていないことを条件として、対応したカラムについてのカウントメモリのブロック数をインクリメントするカウント部と、カラム毎の不良ブロック数に基づいてリペア用カラムに置換すべきカラムを選択する選択部とを備える試験装置を提供する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)