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1. (WO2007086154) DISPOSITIF D’INSPECTION D’UNE BORNE DE PILE, PROCÉDÉ D’INSPECTION, ET PILE SÈCHE CYLINDRIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/086154    N° de la demande internationale :    PCT/JP2006/312584
Date de publication : 02.08.2007 Date de dépôt international : 23.06.2006
CIB :
H01M 6/50 (2006.01), H01M 10/48 (2006.01)
Déposants : FDK ENERGY CO., LTD. [JP/JP]; 614, Washizu, Kosai-shi, Shizuoka 4310495 (JP) (Tous Sauf US).
KUNIYA, Shigeyuki [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
TSUCHIDA, Yuji [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
YAMAZAKI, Tatsuya [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : KUNIYA, Shigeyuki; (JP).
TSUCHIDA, Yuji; (JP).
YAMAZAKI, Tatsuya; (JP)
Mandataire : ISSHIKI & CO.; Rookin-Shinbashi Bldg. 12-7, Shinbashi 2-chome Minato-ku, Tokyo 1050004 (JP)
Données relatives à la priorité :
2006-016780 25.01.2006 JP
Titre (EN) CELL TERMINAL INSPECTING DEVICE, INSPECTING METHOD, AND CYLINDRICAL DRY CELL
(FR) DISPOSITIF D’INSPECTION D’UNE BORNE DE PILE, PROCÉDÉ D’INSPECTION, ET PILE SÈCHE CYLINDRIQUE
(JA) 電池端子検査装置、検査方法および筒形乾電池
Abrégé : front page image
(EN)The poor contact of a terminal face, as might otherwise easily occur especially in a dry cell of a low electromotive force, can be suppressed by inspecting it properly. This inspection can be performed highly efficiently in a noncontact manner. Provided is a cylindrical dry cell, which is reliably suppressed in the poor contact on the terminal face. Also provided is a device (50) for inspecting the poor electric contact on the outer surfaces of the positive electrode terminal (12) and the negative electrode terminal (32) of a dry cell (10). The device (50) comprises projecting means (51) for projecting a light on a measurement object portion of a cell terminal face, light receiving means (52) for detecting the light reflecting state from the measurement object portion, and measurement processing means (55) for quantifying the glossiness of the measurement object portion on the basis of the detection of that light receiving means (52). The evaluation data on the electric contact is obtained from the measured value of the glossiness.
(FR)Le mauvais contact d’une face de borne, tel qu’il pourrait facilement se produire spécialement dans une pile sèche à faible force électromotrice, peut être supprimé selon l'invention grâce à une inspection judicieuse. L’inspection peut être réalisée de manière extrêmement efficace et sans contact. L’invention concerne une pile sèche cylindrique, dont le mauvais contact sur la face de borne est supprimé en toute fiabilité. Elle concerne également un dispositif (50) permettant d’inspecter la qualité du contact électrique sur les surfaces externes de la borne d’électrode positive (12) et la borne d’électrode négative (32) d’une pile sèche (10). Le dispositif (50) comprend un moyen de projection (51) afin de projeter une lumière sur une partie d’objet de mesure d’une face de borne de pile, un moyen de réception de lumière (52) permettant de détecter l’état réfléchissant de lumière de la partie d’objet de mesure, et un moyen de traitement de mesure (55) permettant de quantifier la brillance de la partie d’objet de mesure sur la base de la détection du moyen de réception de lumière (52). Les données d’évaluation sur le contact électrique sont obtenues à partir de la valeur de mesure de brillance.
(JA) 起電力の低い乾電池においてとくに生じやすい端子面の接触不良を的確に検査して抑制することを可能にする。しかも、その検査は非接触で高効率に行えるようにする。また、端子面の接触不良が確実に抑制された筒形乾電池を提供する。乾電池10の正極端子12および負極端子32の外表面における電気接触性を検査する装置50であって、電池端子面の被測定個所に光を入射させる投光手段51と、被測定個所からの光反射状態を検出する受光手段52と、この受光手段52の検出に基づいて被測定個所の光沢度を定量化する測定処理手段55とを備え、上記光沢度の測定値によって上記電気接触性の評価データを得る。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)