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1. (WO2007086143) PROCEDE D'INSPECTION D'UN CORPS DE STRUCTURE EN NID D'ABEILLES ET PROCEDE DE PRODUCTION D'UN CORPS DE STRUCTURE EN NID D'ABEILLES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/086143    N° de la demande internationale :    PCT/JP2006/301461
Date de publication : 02.08.2007 Date de dépôt international : 30.01.2006
CIB :
G01B 5/20 (2006.01)
Déposants : IBIDEN CO., LTD. [JP/JP]; 1, Kandacho 2-chome, Ogaki-shi, Gifu 5038604 (JP) (Tous Sauf US).
IDEI, Toru [JP/FR]; (FR) (US Seulement).
SUZUKI, Norio [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : IDEI, Toru; (FR).
SUZUKI, Norio; (JP)
Mandataire : YASUTOMI, Yasuo; Chuo BLDG., 4-20, Nishinakajima 5-chome, Yodogawa-ku, Osaka-shi, Osaka 5320011 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) INSPECTION METHOD FOR HONEYCOMB STRUCTURE BODY AND PRODUCTION METHOD FOR HONEYCOMB STRUCTURE BODY
(FR) PROCEDE D'INSPECTION D'UN CORPS DE STRUCTURE EN NID D'ABEILLES ET PROCEDE DE PRODUCTION D'UN CORPS DE STRUCTURE EN NID D'ABEILLES
(JA) ハニカム構造体の検査方法、及び、ハニカム構造体の製造方法
Abrégé : front page image
(EN)A method of inspecting a honeycomb structure body, which has less restriction on measurement conditions and with which the shape in the longitudinal direction of the honeycomb structure body can be accurately measured in a short time. The honeycomb structure body is constructed from a column-like honeycomb baked body where a large number of cells are arranged in the longitudinal direction with cell walls in between them. To inspect the honeycomb structure body, a contact-type measurement device is used, and the device has a standard surface, a rail provided vertical to the standard surface, and a measurement element constructed from a probe moving along the rail. One end face of the honeycomb structure body is made to be in contact with the standard surface, and the measurement element is moved in the direction approaching the standard surface to cause the probe to be in contact with the other end face of the honeycomb structure body. Thus the shape in the longitudinal direction of the honeycomb structure body is measured.
(FR)L'invention concerne un procédé d'inspection d'un corps de structure en nid d'abeilles, qui a moins de restrictions concernant les conditions de mesure et avec lequel la forme dans la direction longitudinale du corps de structure en nid d'abeilles peut être mesurée avec précision en peu de temps. Le corps de structure en nid d'abeilles est construit à partir d'un corps cuit en nid d'abeilles similaire à une colonne, où un grand nombre de cellules sont arrangées dans la direction longitudinale, des parois cellulaires se trouvant entre elles. Pour inspecter le corps de structure en nid d'abeilles, un dispositif de mesure du type à contact est utilisé, et le dispositif a une surface standard, un rail mis en œuvre de manière verticale par rapport à la surface standard, et un élément de mesure construit à partir d'une sonde se déplaçant le long du rail. Une face d'extrémité du corps de structure en nid d'abeille est amenée à entrer en contact avec la surface standard, et l'élément de mesure est déplacé dans la direction approchant la surface standard pour amener la sonde à entrer en contact avec l'autre face d'extrémité du corps de structure en nid d'abeilles. Ainsi, la forme dans la direction longitudinale du corps de structure en nid d'abeille est mesurée.
(JA)本発明は、測定条件の影響が少なく、かつ、短時間で正確にハニカム構造体の長手方向の形状を計測することができるハニカム構造体の検査方法を提供することを目的とするものであり、本発明のハニカム構造体の検査方法は、多数のセルがセル壁を隔てて長手方向に並設された柱状のハニカム焼成体からなるハニカム構造体の検査方法であって、基準面と、上記基準面に垂直に設けられたレール、及び、上記レールに沿って移動する探針からなる測定子とを備えた接触式計測機を準備し、上記基準面に上記ハニカム構造体の一方の端面を接触させ、上記測定子を上記基準面に近づける方向に移動せしめて上記ハニカム構造体の他方の端面に上記探針を接触させることにより、上記ハニカム構造体の長手方向の形状を計測することを特徴とする。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)