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1. (WO2007061557) SYSTEME D'INSPECTION PAR ECLAIRAGE A TRANSMISSION OBLIQUE ET PROCEDE D'INSPECTION D'UNE FEUILLE DE VERRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/061557    N° de la demande internationale :    PCT/US2006/041480
Date de publication : 31.05.2007 Date de dépôt international : 24.10.2006
CIB :
G01N 21/00 (2006.01)
Déposants : CORNING INCORPORATED [US/US]; 1 Riverfront Plaza, Corning, NY 14831 (US) (Tous Sauf US).
DUREIKO, Richard, D. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : DUREIKO, Richard, D.; (US)
Mandataire : NICASTRI, Christopher; Corning Incorporated, Patent Department, SP-TI-3-1, Corning, NY 14831 (US)
Données relatives à la priorité :
11/284,754 21.11.2005 US
Titre (EN) OBLIQUE TRANSMISSION ILLUMINATION INSPECTION SYSTEM AND METHOD FOR INSPECTING A GLASS SHEET
(FR) SYSTEME D'INSPECTION PAR ECLAIRAGE A TRANSMISSION OBLIQUE ET PROCEDE D'INSPECTION D'UNE FEUILLE DE VERRE
Abrégé : front page image
(EN)An oblique illumination inspection system and method are described herein that are used to identify a defect (e.g., inclusion, onclusion, scratch, stain, blister, cord or other imperfection associated with a surface discontinuity or material non-homogeneity) on or within a glass sheet (e.g., LCD glass substrate).
(FR)La présente invention décrit un système d'inspection par éclairage oblique et un procédé qui sont utilisés pour identifier un défaut (par exemple, inclusion, occlusion, éraflure, tache, bulle, corde ou autre imperfection associée à une discontinuité de surface ou une non-homogénéité de matériau) sur ou à l'intérieur d'une feuille de verre (par exemple, substrat de verre pour affichage à cristaux liquides).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)