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1. (WO2007059315) ESSAI DE MATRICE A L'AIDE DE BARRETTES DE COURT-CIRCUIT ET DE SIGNAUX D'HORLOGE HAUTE FREQUENCE POUR LE CONTROLE D'ECRAN LCD TFT A CI DE COMMANDE INTEGRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/059315    N° de la demande internationale :    PCT/US2006/044688
Date de publication : 24.05.2007 Date de dépôt international : 15.11.2006
CIB :
G01R 31/08 (2006.01), G01R 31/00 (2006.01), G06K 9/00 (2006.01), G02F 1/1343 (2006.01)
Déposants : PHOTON DYNAMICS, INC. [US/US]; 5970 Optical Court, San Jose, California 95138 (US) (Tous Sauf US).
JUN, Mike [KR/US]; (US) (US Seulement).
ERSAHIN, Atila [US/US]; (US) (US Seulement).
MCGINLEY, Barry [US/US]; (US) (US Seulement).
SANJEEVI, Sabari [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : JUN, Mike; (US).
ERSAHIN, Atila; (US).
MCGINLEY, Barry; (US).
SANJEEVI, Sabari; (US)
Mandataire : TABIBI, Ardeshir; Two Embarcadero Center, 8th Floor, San Francisco, California 94111-3834 (US)
Données relatives à la priorité :
60/737,090 15.11.2005 US
11/559,577 14.11.2006 US
Titre (EN) ARRAY TEST USING THE SHORTING BAR AND HIGH FREQUENCY CLOCK SIGNAL FOR THE INSPECTION OF TFT-LCD WITH INTEGRATED DRIVER IC
(FR) ESSAI DE MATRICE A L'AIDE DE BARRETTES DE COURT-CIRCUIT ET DE SIGNAUX D'HORLOGE HAUTE FREQUENCE POUR LE CONTROLE D'ECRAN LCD TFT A CI DE COMMANDE INTEGRE
Abrégé : front page image
(EN)In accordance with the present invention, a first shorting bar (608subl) drives the data lines (606) of a TFT array (402) having integrated gate driver circuitry. Another set of shorting bars (450) drive the corresponding terminals of the gate driver circuitry (404). The pixel voltages are measured after all the pixels are charged by the driving signals applied to the shorting bars (Vdd, Vst, CK1, etc). Gate voltages are progressively applied to the gate lines by the gate driver integrated circuit via the set of shorting bars that, in turn, are driven by clock signals received from one or more pattern generators. Voltages are concurrently applied to the data lines which are connected together by the first shorting bar. The application of voltages generates a display pattern that is subsequently compared to an expected display pattern. By comparing the resulting display pattern and the expected display pattern, possible defects are detected.
(FR)Selon la présente invention, une première barrette de court-circuit commande les lignes de données d'une matrice TFT ayant un circuit de commande de grilles intégré. Un autre ensemble de barrettes de court-circuit commandent les bornes correspondantes du circuit de commande de grilles. Les tensions de pixel sont mesurées après chargement de tous les pixels par les signaux de commande appliqués aux barrettes de court-circuit. Des tensions de grille sont progressivement appliquées aux lignes de grille par le circuit intégré (CI) de commande de grilles via l'ensemble de barrettes de court-circuit qui, à leur tour, sont commandées par des signaux d'horloge reçus d'un ou de plusieurs générateurs de motif. Des tensions sont simultanément appliquées aux lignes de données interconnectées par la première barrette de court-circuit. L'application de tensions génère un motif d'affichage qui est ensuite comparé à un motif d'affichage prévu. La comparaison du motif d'affichage obtenu et de celui prévu permet de détecter d'éventuels défauts.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)