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1. (WO2007058182) MICROSCOPE ELECTRONIQUE A CONTRASTE DE PHASE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/058182    N° de la demande internationale :    PCT/JP2006/322680
Date de publication : 24.05.2007 Date de dépôt international : 14.11.2006
CIB :
H01J 37/06 (2006.01), H01J 37/26 (2006.01), H01J 37/28 (2006.01), H01J 37/295 (2006.01)
Déposants : INTER-UNIVERSITY RESEARCH INSTITUTE CORPORATION NATIONAL INSTITUTES OF NATURAL SCIENCES [JP/JP]; 21-1, Osawa 2-chome, Mitaka-shi, Tokyo 1818588 (JP) (Tous Sauf US).
NAGAYAMA IP HOLDINGS, LLC [US/US]; c/o Toyota Tsusho America, Inc. 805 Third Avenue, 17th Floor New York, NY 10022 (US) (Tous Sauf US).
NAGAYAMA, Kuniaki [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : NAGAYAMA, Kuniaki; (JP)
Mandataire : NISHIZAWA, Toshio; Three F Minami Aoyama Bldg. 7F 11-1, Minami-Aoyama 6-chome Minato-ku, Tokyo 1070062 (JP)
Données relatives à la priorité :
2005-330374 15.11.2005 JP
Titre (EN) PHASE CONTRAST ELECTRON MICROSCOPE
(FR) MICROSCOPE ELECTRONIQUE A CONTRASTE DE PHASE
(JA) 位相差電子顕微鏡装置
Abrégé : front page image
(EN)A confocal method using a collective lens and a front objective lens at the incident side and a rear objective lens and a projection lens at the outgoing side which are arranged symmetrically with respect to a sample is configured in such a way that a space filter can be inserted into the front of and behind the sample. Thus, it is possible to utilize the advantage of the confocal method that a space filter can be installed in front of the sample and eliminate the disadvantage of the conventional transmission phase contrast electron microscope (halo, electron beam loss), thereby providing a phase contrast electron microscope enabling a user to view a wide range of materials concerning from materials science and to life science in an non-dyed state with a high contrast and a high resolution.
(FR)Dans la présente invention, un procédé confocal utilisant une lentille convergente et une lentille de focalisation avant sur le côté incident ainsi qu'une lentille de focalisation arrière et une lentille de projection sur le côté de fuite qui sont disposées symétriquement par rapport à un échantillon est configuré de manière à ce qu'un filtre spatial puisse être inséré à l'avant et à l'arrière de l'échantillon. Ainsi, il est possible d'exploiter l'avantage du procédé confocal dans le sens qu'un filtre spatial peut être installé à l'avant de l'échantillon et d'éliminer l'inconvénient du microscope électronique à contraste de phase traditionnel (halo, perte de faisceau électronique), en mettant ainsi à disposition un microscope électronique à contraste de phase permettant à un utilisateur de visualiser une vaste gamme de matériaux allant des sciences des matériaux aux sciences biologiques dans une condition d'absence de colorant avec un contraste élevé et une haute définition.
(JA) 試料を中心に、入射側に集光レンズおよび前方対物レンズを、射出側に後方対物レンズおよび投影レンズを対称的に配置した共焦点法において、試料前方と後方に空間フィルター挿入を可能とする構成を持つようにする。これにより、試料前に空間フィルターを設置可能であるという共焦点法の利点を生かし、従来の透過位相差電子顕微鏡の弱点(ハロー、電子線損失)を取り除いて、材料科学から生命科学にわたる幅広い材料を無染色状態において高コントラストかつ高分解能で見ることが可能な電子顕微鏡技術を確立できる、位相差電子顕微鏡装置を提供する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)