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1. (WO2007058117) DISPOSITIF DE CONTROLE DE MATERIAU DE BRASAGE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/058117    N° de la demande internationale :    PCT/JP2006/322390
Date de publication : 24.05.2007 Date de dépôt international : 09.11.2006
CIB :
G01N 21/35 (2006.01)
Déposants : OMRON Corporation [JP/JP]; 801, Minamifudodo-cho, Horikawahigashiiru, Shiokoji-dori, Shimogyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6008530 (JP) (Tous Sauf US).
OHASHI, Katsumi; (US Seulement).
HORINO, Masanobu; (US Seulement).
ONISHI, Yasuhiro; (US Seulement)
Inventeurs : OHASHI, Katsumi; .
HORINO, Masanobu; .
ONISHI, Yasuhiro;
Mandataire : NAITO, Teruo; Shin-ei Patent Office 7-13, Nishi-Shimbashi 1-chome Minato-ku, Tokyo 1050003 (JP)
Données relatives à la priorité :
2005-330281 15.11.2005 JP
2005-337790 22.11.2005 JP
Titre (EN) SOLDER MATERIAL INSPECTING DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE CONTROLE DE MATERIAU DE BRASAGE
(JA) 半田材検査装置
Abrégé : front page image
(EN)Printing position information including CAD data is acquired by printing position acquiring means before electronic parts are mounted on a board (2). A light beam is applied only to a cream solder (3) printed on the board (2) while scanning the board (2) with the light beam. The inspection object intensity of the infrared radiation of a specific wave number reflected from the cream solder (3) by the application of the light beam is measured. The cream solder (3) printed on the board (2) is treated as an inspection object, and a light beam is applied to a cream solder (3) used as a comparison object with respect to the inspection object. The comparison object intensity of the infrared radiation of the specific wave number detected as a reflected light when the light beam is applied to the comparison object cream solder is measured. According to the comparison object intensity and the inspection object intensity, a deterioration parameter indicating the degree of relative deterioration of the cream solder (3) of the inspection object relative to the comparison object cream solder (3) is computed.
(FR)Selon la présente invention, des données de position d’impression comprenant des données CAO sont obtenues par un moyen d’acquisition de position d’impression avant le montage de composants électroniques sur une carte (2). Un faisceau lumineux n’est appliqué qu’à une crème à braser (3) imprimée sur la carte (2) lors du balayage de la carte (2) par le faisceau lumineux. L’intensité d’objet de contrôle est mesurée pour le rayonnement infrarouge du nombre d’ondes réfléchi par la crème à braser (3) suite à l’application du faisceau lumineux. La crème à braser (3) imprimée sur la carte (2) est traitée en tant qu’objet de contrôle, et un faisceau lumineux est appliqué à une crème à braser (3) servant d’objet de comparaison pour l’objet de contrôle. L’intensité d’objet de comparaison est mesurée pour le rayonnement infrarouge du nombre d’ondes détecté en tant que lumière réfléchie lorsque le faisceau lumineux est appliqué à la crème à braser objet de comparaison. Selon les intensités d’objet de comparaison et d’objet de contrôle, un paramètre de dégradation, indiquant le degré de dégradation relative de la crème à braser objet de contrôle (3) par rapport à la crème à braser objet de comparaison (3), est calculé.
(JA) 基板2への電子部品搭載前に、CADデータ等の印刷位置取得手段で取得し た印刷位置情報に基づいて、基板2上を走査しながら基板2上に印刷されたクリーム半田3に対してのみ光を照射し、この光の照射によってクリーム半田3から反射してくる特定波数の赤外線の検査対象強度を検出する。基板2上に印刷されたクリーム半田3を検査対象とし、この検査対象に対する比較対象のクリーム半田3に光を照射したときの反射光として検出される上記特定波数の赤外線の比較対象強度と、上記検査対象強度とに基づいて、上記比較対象のクリーム半田3に対する上記検査対象のクリーム半田3の相対的劣化度を示した劣化パラメータを算出する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)