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1. (WO2007057498) SYSTEME D'IMAGERIE A OPTIQUE REGLABLE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/057498    N° de la demande internationale :    PCT/FI2005/050409
Date de publication : 24.05.2007 Date de dépôt international : 15.11.2005
CIB :
H04N 5/232 (2006.01)
Déposants : NOKIA CORPORATION [FI/FI]; Keilalahdentie 4, FI-02150 ESPOO (FI) (Tous Sauf US).
KALEVO, Ossi [FI/FI]; (FI) (US Seulement).
KAKKORI, Hannu [FI/FI]; (FI) (US Seulement).
KUNNARI, Mika [FI/FI]; (FI) (US Seulement).
OLLILA, Mikko [FI/FI]; (FI) (US Seulement)
Inventeurs : KALEVO, Ossi; (FI).
KAKKORI, Hannu; (FI).
KUNNARI, Mika; (FI).
OLLILA, Mikko; (FI)
Mandataire : TAMPEREEN PATENTTITOIMISTO OY; Hermiankatu 12 B, FI-33720 TAMPERE (FI)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) IMAGING SYSTEM WITH ADJUSTABLE OPTICS
(FR) SYSTEME D'IMAGERIE A OPTIQUE REGLABLE
Abrégé : front page image
(EN)This invention provides a solution for determining a non-exposure time during which imaging optics can be adjusted without affecting the image being captured. In the solution an image sequence comprising at least two images is acquired, at least one of which said at least two images is used as measurement image and at least one other of which said at least two images is used as final image. Exposure times are determined for the measurement image and the final image. By means of the exposure times for the measurement image and the final image, the non-exposure time can be determined. As a result of this, the imaging optics can be adjusted during non-exposure time.
(FR)La présente invention a trait à une solution pour la détermination d'un temps de non exposition pendant laquelle une optique d'imagerie peut être ajustée sans affecter l'image en cours de capture. Dans la solution, une séquence d'images comportant au moins deux images est acquise, au moins une desdites des images étant utilisée comme image de mesure et au moins une autre desdites au moins deux images étant utilisée comme image finale. On détermine des temps d'exposition pour l'image de mesure et l'image finale. Grâce aux temps d'exposition pour l'image de mesure et l'image finale, on détermine le temps de non exposition. Par conséquent, l'optique d'imagerie peut être ajustée pendant le temps de non exposition.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)