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1. (WO2007056303) SURFACES NANOSTRUCTUREES ET PROCEDES ASSOCIES POUR ADHERENCE, DETECTION ET SEPARATION SELECTIVES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/056303    N° de la demande internationale :    PCT/US2006/043225
Date de publication : 18.05.2007 Date de dépôt international : 03.11.2006
CIB :
C12Q 1/00 (2006.01), C12M 1/34 (2006.01)
Déposants : UNIVERSITY OF MASSACHUSETTS [US/US]; 225 FRANKLIN STREET, Boston, MA 02110 (US) (Tous Sauf US).
SANTORE, Maria, M. [US/US]; (US) (US Seulement).
KOZLOVA, Natalia [RU/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : SANTORE, Maria, M.; (US).
KOZLOVA, Natalia; (US)
Mandataire : DEKRUIF, Rodney, D.; REINHART BOERNER VAN DEUREN S.C., 1000 NORTH WATER STREET, SUITE 2100, Milwaukee, WI 53202 (US)
Données relatives à la priorité :
60/732,941 03.11.2005 US
Titre (EN) NANOPATTERNED SURFACES AND RELATED METHODS FOR SELECTIVE ADHESION, SENSING AND SEPARATION
(FR) SURFACES NANOSTRUCTUREES ET PROCEDES ASSOCIES POUR ADHERENCE, DETECTION ET SEPARATION SELECTIVES
Abrégé : front page image
(EN)Nanodimensioned heterogeneous surface compositions and configurations, related systms ad methods for sensing particle or analyte interaction therewith.
(FR)La présente invention porte sur des compositions et des configurations de surfaces hétérogènes nanodimensionnées, ainsi que sur des systèmes et des procédés associés permettant de détecter l'interaction de particules ou d'analytes avec celles-ci.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)