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1. (WO2007055868) CONTROLE DE LA QUALITE DE LA FIXATION D'UNE SONDE SUR DES ELECTRODES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/055868    N° de la demande internationale :    PCT/US2006/040231
Date de publication : 18.05.2007 Date de dépôt international : 16.10.2006
CIB :
C12Q 1/68 (2006.01)
Déposants : GENEOHM SCIENCES, INC. [US/US]; 6146 Nancy Ridge Lane, San Diego, California 92121 (US) (Tous Sauf US).
YANG, Xing [US/US]; (US) (US Seulement).
ZHU, Qun [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : YANG, Xing; (US).
ZHU, Qun; (US)
Mandataire : MALLON, Joseph J.; Knobbe Martens Olson & Bear LLP, 2040 Main Streeet, 14th Floor, Irvine, California 92614 (US)
Données relatives à la priorité :
11/264,996 02.11.2005 US
Titre (EN) QUALITY CONTROL OF PROBE ATTACHMENT ON ELECTRODES
(FR) CONTROLE DE LA QUALITE DE LA FIXATION D'UNE SONDE SUR DES ELECTRODES
Abrégé : front page image
(EN)The present disclosure relates to methods of quantifying nucleic acid molecules immobilized on an electrode of an electrochemical assay chip. Such quantification can be used in testing and quality control of assay chips. Materials and instrumentation useful in performing such techniques are also disclosed.
(FR)La présente invention concerne des procédés permettant de quantifier le nombre de molécules d'acide nucléique immobilisées sur une électrode d'une puce de dosage électrochimique. Cette quantification peut être utilisée pour tester des puces de dosage et contrôler leur qualité. L'invention concerne également des éléments matériels et des instruments destinés à la mise en oeuvre de ces techniques.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)