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1. (WO2007055691) DISPOSITIF DE COMMANDE DYNAMIQUE DE PROFIL DE FAISCEAU LASER
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/055691    N° de la demande internationale :    PCT/US2005/040750
Date de publication : 18.05.2007 Date de dépôt international : 10.11.2005
CIB :
B23K 26/00 (2006.01), B23K 26/20 (2006.01), B23K 26/38 (2006.01)
Déposants : QUINTESSENCE PHOTONICS CORPORATION [US/US]; 15632 Roxford Street, Sylmar, CA 91342-1265 (US) (Tous Sauf US)
Inventeurs : LIPSON, Jan; (**)
Mandataire : YORKS, Ben, J.; Irell & Manella LLP, 840 Newport Center Drive, Suite 400, Newport Beach, CA 92660 (US)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) APPARATUS FOR DYNAMIC CONTROL OF LASER BEAM PROFILE
(FR) DISPOSITIF DE COMMANDE DYNAMIQUE DE PROFIL DE FAISCEAU LASER
Abrégé : front page image
(EN)A laser system that can be used to perform manufacturing process such as welding, cutting, drilling and marking a work piece. The laser system includes an array of laser diodes (12) that each generate a laser beam. The laser beams (16) may collectively create a beam that is directed onto the work piece (20). The system also includes a control circuit (28) that can select and control the laser diodes to vary a characteristic(s) and/or profile of the beam. The control circuit may control the laser diodes so that an outer area of the beam has a higher intensity than an inner area of the beam.
(FR)L'invention concerne un système laser pouvant être utilisé pour mettre en oeuvre un procédé de fabrication tel que le soudage, la découpe, le forage et le marquage d'une pièce à usiner. Le système laser comprend un réseau de diodes laser (12) produisant chacune un faisceau laser. Les faisceaux laser (16) produisent collectivement un faisceau, qui est dirigé sur la pièce à usiner (20). Le système comprend aussi un circuit de commande (28) permettant de sélectionner et de commander les diodes laser afin de faire varier une ou des caractéristique(s) et/ou le profil du faisceau. Ledit circuit commande les diodes laser de sorte que la zone extérieure du faisceau présente une intensité supérieure à la zone intérieure du faisceau.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)