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1. (WO2007055020) DISPOSITIF D'ÉLÉVATEUR
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/055020    N° de la demande internationale :    PCT/JP2005/020824
Date de publication : 18.05.2007 Date de dépôt international : 14.11.2005
CIB :
B66B 5/00 (2006.01)
Déposants : MITSUBISHI DENKI KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 7-3, Marunouchi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008310 (JP) (Tous Sauf US).
OKAMOTO, Ken-Ichi [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
KIGAWA, Hiroshi [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
UEDA, Takaharu [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : OKAMOTO, Ken-Ichi; (JP).
KIGAWA, Hiroshi; (JP).
UEDA, Takaharu; (JP)
Mandataire : SOGA, Michiteru; S. Soga & Co. 8th Floor, Kokusai Building 1-1, Marunouchi 3-chome Chiyoda-ku, Tokyo 1000005 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) ELEVATOR DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ÉLÉVATEUR
(JA) エレベータ装置
Abrégé : front page image
(EN)An elevator device in which a weighing device produces a signal corresponding to a load placed in an elevator car. The weighing device is automatically inspected by a weigher inspection section. The weigher inspection section generates a command for causing testing operation of the car and detects an abnormality of the weighing device based on a signal outputted in the testing operation from the weighing device.
(FR)L'invention concerne un dispositif d'élévateur dans lequel un dispositif de pesage produit un signal correspondant à une charge placée dans une cabine d'élévateur. Le dispositif de pesage est automatiquement inspecté par une section d'inspection de bascule. La section d'inspection de bascule génère une commande pour provoquer un fonctionnement de test de la cabine et détecte une anomalie du dispositif de pesage sur la base d'un signal sorti pendant le fonctionnement de test provenant du dispositif de pesage.
(JA) エレベータ装置においては、かご内の積載荷重に応じた信号が秤装置により発生される。秤装置は、秤検査部により自動的に検査される。秤検査部は、かごを試験動作させるための指令を発生するとともに、試験動作により秤装置から出力される信号に基づいて、秤装置の異常を検出する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)