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1. (WO2007055012) UNITÉ DE CONTACT ET SYSTÈME DE TEST
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/055012    N° de la demande internationale :    PCT/JP2005/020635
Date de publication : 18.05.2007 Date de dépôt international : 10.11.2005
CIB :
G01R 31/28 (2006.01), G01R 1/06 (2006.01), G02F 1/13 (2006.01)
Déposants : NHK SPRING CO., LTD. [JP/JP]; 3-10, Fukuura, Kanazawa-ku, Yokohama-shi, Kanagawa 2360004 (JP) (Tous Sauf US).
ISHIKAWA, Shigeki [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
NIDAIRA, Takashi [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : ISHIKAWA, Shigeki; (JP).
NIDAIRA, Takashi; (JP)
Mandataire : SAKAI, Hiroaki; Sakai International Patent Office Kasumigaseki Building 2-5, Kasumigaseki 3-chome Chiyoda-ku, Tokyo 1006020 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) CONTACT UNIT AND TESTING SYSTEM
(FR) UNITÉ DE CONTACT ET SYSTÈME DE TEST
(JA) コンタクトユニットおよび検査システム
Abrégé : front page image
(EN)A contact unit which has a simple configuration and can perform precise alignment with a test object is provided. On the top surface of a holder base (15) provided to a contact unit (2), contact probes (13) are arranged correspondingly to the arrangement pattern of test pads (11) provided in a circuit-forming region (5a), which is a test object, and groups of detecting probes (14a to 14d) are arranged correspondingly to dummy pads (7a to 7d). Each group of detecting probes (14) consists of probes (19, 20) connected respectively to a light-emitting diode (12) and a voltage source (21) which constitute a positional relationship detector (22). Since the light-emitting diode (12) emits light when the probes (19, 20) comes in contact with the corresponding dummy pad (7) to become conductive with each other in a test using the contact unit (2), whether or not the alignment has been performed precisely can be judged by checking the emission state of the light-emitting diode (12).
(FR)L'invention concerne une unité de contact qui présente une configuration simple et peut effectuer un alignement précis avec un objet en test. Sur la surface supérieure d'une base de support (15) montée sur une unité de contact (2), des sondes de contact (13) sont disposées en correspondance avec le motif de disposition de plages de test (11) utilisées dans une région (5a) formant un circuit qui représente un objet en test, et des groupes de sondes de détection (14a à 14d) sont disposées en correspondance avec des plages factices (7a à 7d). Chaque groupe de sondes de détection (14) est constitué de sondes (19, 20) reliées respectivement à une diode électroluminescente (12) et à une source de tension (21) qui constituent un détecteur (22) de relation de position. Du fait que la diode électroluminescente (12) émet de la lumière lorsque les sondes (19, 20) viennent en contact avec la plage factice correspondante (7) afin de devenir conductrice l'une avec l'autre dans un test utilisant l'unité de contact (2), le fait que l'alignement a été effectué précisément ou non peut être évalué en contrôlant l'état d'émission de la diode électroluminescente (12).
(JA) 簡易な構成を有すると共に検査対象との間で正確な位置あわせを行うことが可能なコンタクトユニットを実現する。  コンタクトユニット2に備わるホルダ基板15の上面には、検査対象たる回路形成領域5aに備わるテストパッド11の配置パターンに対応してコンタクトプローブ13が配置されると共に、ダミーパッド7a~7dに対応して、検出プローブ群14a~14dが配置される。検出プローブ群14はプローブ19、20によって構成され、それぞれが位置関係検出部22を構成する発光ダイオード12および電圧源21と接続される。コンタクトユニット2を用いた検査が行われる際に、プローブ19、20が対応するダミーパッド7と接触することによって互いに導通した場合に発光ダイオード12が発光するため、発光ダイオード12の発光状態を確認することで位置あわせが正確に行われたか否かを判定できる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)