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1. (WO2007053312) COMPOSITION DE POLY(ARYLENE ETHER) RETICULE, PROCEDE ET ARTICLE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/053312    N° de la demande internationale :    PCT/US2006/040783
Date de publication : 10.05.2007 Date de dépôt international : 19.10.2006
CIB :
C08G 65/48 (2006.01), C08L 71/12 (2006.01), C08G 8/10 (2006.01), C08K 3/00 (2006.01), C08K 5/00 (2006.01), C08L 23/02 (2006.01), C08L 83/04 (2006.01)
Déposants : GENERAL ELECTRIC COMPANY [--/US]; (A New York Corporation), 1 River Road, Schenectady, NY 12345 (US) (Tous Sauf US).
DHANABALAN, Anantharaman [IN/IN]; (IN) (US Seulement).
SOM, Abhijit [IN/IN]; (IN) (US Seulement)
Inventeurs : DHANABALAN, Anantharaman; (IN).
SOM, Abhijit; (IN)
Mandataire : CURBELO, Pamela; Cantor Colburn, LLP, 55 Griffin Road South, Bloomfield, CT 06002 (US)
Données relatives à la priorité :
11/263,248 31.10.2005 US
Titre (EN) CROSSLINKED POLY(ARYLENE ETHER) COMPOSITION, METHOD, AND ARTICLE
(FR) COMPOSITION DE POLY(ARYLENE ETHER) RETICULE, PROCEDE ET ARTICLE
Abrégé : front page image
(EN)A poly(arylene ether) may be reacted with a formaldehyde compound in the presence of trifluoroacetic acid to form a crosslinked poly(arylene ether). The crosslinked poly(arylene ether) has excellent heat resistance, solvent resistance, and dielectric properties, and it is useful in the fabrication of electronic devices.
(FR)L’invention concerne un poly(arylène éther) pouvant être mis en réaction avec un composé de formaldéhyde en présence d’acide trifluoroacétique afin de former un poly(arylène éther) réticulé. Le poly(arylène éther) réticulé présente d’excellentes propriétés de résistance thermique, de résistance aux solvants et d'excellentes propriétés diélectriques. Il est utile pour la fabrication de dispositifs électroniques.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)