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1. (WO2007052550) PROCÉDÉ DE MESURE DE RAPPORT SIGNAL SUR BRUIT DANS UN BRUIT DE SURFACE DE COURANTS DE FOUCAULT SUR UNE SURFACE INTÉRIEURE DE TUBE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/052550    N° de la demande internationale :    PCT/JP2006/321483
Date de publication : 10.05.2007 Date de dépôt international : 27.10.2006
CIB :
G01N 27/90 (2006.01)
Déposants : Sumitomo Metal Industries, Ltd. [JP/JP]; 5-33, Kitahama 4-chome, Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5410041 (JP) (Tous Sauf US).
KINOMURA, Shoji [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
NAKAO, Yoshiyuki [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
KODAI, Toshiya [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
NISHIYAMA, Shugo [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : KINOMURA, Shoji; (JP).
NAKAO, Yoshiyuki; (JP).
KODAI, Toshiya; (JP).
NISHIYAMA, Shugo; (JP)
Mandataire : OHNAKA, Minoru; Osaka-Hokushin bldg. 4F, 3-6, Minamisemba 2-chome Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5420081 (JP)
Données relatives à la priorité :
2005-316319 31.10.2005 JP
Titre (EN) METHOD FOR MEASURING S/N RATIO IN EDDY CURRENT SCRATCH ON INNER SURFACE OF TUBE
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE DE RAPPORT SIGNAL SUR BRUIT DANS UN BRUIT DE SURFACE DE COURANTS DE FOUCAULT SUR UNE SURFACE INTÉRIEURE DE TUBE
(JA) 管内面の渦流探傷におけるS/N比測定方法
Abrégé : front page image
(EN)An S/N ratio measuring method includes: a step for separating an eddy current signal into an X-axis component and a Y-axis component and acquiring signal waveform data on each of the components; a step for removing a predetermined low frequency component from the acquired respective signal waveform data; a step for calculating a noise voltage value V1 defined by an expression (1) given below according to voltage value X(i) and Y(i) in the signal waveform data on the X-axis component and the Y-axis component from which the low frequency component has been removed; and a step for calculating the S/N ratio by dividing a voltage value D of the eddy current signal corresponding to an artificial scratch by the noise voltage value V1. ··· (1) Here, n represents the number of samplings of the signal waveform data.
(FR)L'invention concerne un procédé de mesure de rapport signal sur bruit qui inclut : une étape consistant à séparer un signal de courants de Foucault dans une composante sur l'axe des X et une composante sur l'axe des Y et à acquérir des données sur la forme d'onde du signal de chacune des composantes, une étape consistant à éliminer une composante prédéterminée à basse fréquence à partir des données acquises sur la forme d'onde des signaux respectifs, une étape consistant à calculer une valeur de tension de bruit V1 définie par une expression (1) donnée ci-dessous en fonction de la valeur des tensions X(i) et Y(i) dans les données sur la forme d'onde de signal sur la composante sur l'axe des X et sur la composante sur l'axe des Y à partir desquelles la composante à basse fréquence a été éliminée, ainsi qu'une étape consistant à calculer le rapport signal sur bruit en divisant la valeur de tension D du signal de courants de Foucault correspondant à un bruit de surface artificiel par la valeur de tension de bruit V1. ûûû (1). Ici, n représente le nombre d'échantillons des données sur la forme d'onde de signaux.
(JA)not available
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)