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1. (WO2007052508) AIGUILLE DE SONDE POUR CARTE A SONDE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/052508    N° de la demande internationale :    PCT/JP2006/321233
Date de publication : 10.05.2007 Date de dépôt international : 25.10.2006
CIB :
G01R 1/067 (2006.01)
Déposants : TOKUSEN KOGYO CO., LTD. [JP/JP]; 1081, Minamiyama, Sumiyoshi-cho, Ono-shi, Hyogo 6751361 (JP) (Tous Sauf US).
HIMENO, Norihisa; (US Seulement)
Inventeurs : HIMENO, Norihisa;
Mandataire : SUMIDA, Yoshihiro; Arco Patent Office 3rd Fl., Bo-eki Bldg. 123-1, Higashimachi Chuo-ku, Kobe-shi Hyogo 6500031 (JP)
Données relatives à la priorité :
2005-315912 31.10.2005 JP
2006-003418 11.01.2006 JP
2006-006304 13.01.2006 JP
Titre (EN) PROBE NEEDLE FOR PROBE CARD
(FR) AIGUILLE DE SONDE POUR CARTE A SONDE
(JA) プローブカード用プローブ針
Abrégé : front page image
(EN)A probe needle for probe card that excels in electric conductivity, corrosion resistance and abrasion resistance, having an appropriate contact force to chip electrode, and that ensures excellent bending workability in production stage, being resistant to bending or breaking in the stage of actual use. There is provided a probe needle for probe card of component formulation comprising 1 to 10 wt.% platinum, 5 to 15 wt.% silver, 10 to 20 wt.% either copper or nickel or sum of both and the rest composed mainly of gold, which probe needle exhibits a tensile strength of 1000 to 1200 N/mm2 and a Vickers hardness (Hv) of 300 to 360.
(FR)La présente invention concerne une aiguille de sonde pour une carte à sonde qui présente une excellente conductivité électrique, une résistance à la corrosion et à l'abrasion, ayant une force de contact appropriée à l'électrode de puce, et qui assure une excellente maniabilité de pliage à l'étape de production, résistant au pliage ou à la rupture à l'étape de l'utilisation réelle. L'invention concerne aussi une aiguille de sonde pour carte à sonde d'une formulation de composant comprenant de 1 à 10 % par poids de platine, de 5 à 15 % par poids d'argent, de 10 à 20 % par poids de cuivre ou de nickel ou une somme des deux et le reste est composé principalement d'or, laquelle aiguille de sonde montre une résistance à la tension de 1000 à 1200 N/mm2 ainsi qu'une dureté de Vickers (Hv) de 300 à 360.
(JA)   導電性と耐腐食性と耐摩耗性に優れ、チップ電極への適切な当接力を有し、製造時の曲げ加工性が良好で、実際の使用時において曲げや折れが発生しにくいプローブカード用プローブ針を提供する。   白金が1~10重量%で、銀が5~15重量%で、銅、ニッケルのいずれか一方又は両方を合わせて10~20重量%で、残部が主として金からなる成分組成のプローブカード用プローブ針において、引張り強さが1000~1200N/mmで、かつビッカース硬さHvが300~360である。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)