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1. (WO2007052347) DISPOSITIF DE MESURE DE LENTILLE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/052347    N° de la demande internationale :    PCT/JP2005/020207
Date de publication : 10.05.2007 Date de dépôt international : 02.11.2005
CIB :
G01M 11/02 (2006.01)
Déposants : NIDEK CO., LTD. [JP/JP]; 7-9, Sakae-cho, Gamagori-shi, Aichi 4430035 (JP) (Tous Sauf US).
KAJINO, Tadashi [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : KAJINO, Tadashi; (JP)
Mandataire : COSMOS PATENT OFFICE; Annex 2nd Floor, Nagoya Center Building 2-22, Nishiki 2-chome Naka-ku, Nagoya-shi, Aichi 4600003 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) LENS METER
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE LENTILLE
(JA) レンズメータ
Abrégé : front page image
(EN)A lens meter for measuring the optical characteristics of a lens to be measured comprises a measuring optical system having a light source projecting a measuring luminous flux to the lens and a light receiving sensor receiving the measuring luminous flux having passed through the lens, an operation part providing optical characteristic distribution in a prescribed measurement region of the lens on the basis of the results of the light-reception by the light receiving sensor, a near-sight part determining whether or not there is any near-sight part of the lens in the measurement region on the basis of the optical characteristic distribution in the measurement region, and a detecting means for detecting presence of a non-optical region in addition to the optical region of the lens in the measurement region on the basis of the results of the light-reception by the light receiving sensor. The operation part provides the addition power of the lens from the optical characteristic distribution of the optical region in the measurement region when the presence of the near-sight part in the measurement region is not determined by the near-sight part determining means, and the presence of the non-optical region in the measurement region is detected by the detecting means.
(FR)La présente invention concerne un dispositif de mesure de lentille qui permet d’établir les caractéristiques optiques d’une lentille à mesurer et comprend : un système optique de mesure comportant une source lumineuse pour projeter un flux lumineux de mesure sur la lentille et un capteur photorécepteur pour recevoir le flux lumineux de mesure transmis à travers la lentille ; une unité fonctionnelle assurant la répartition des caractéristiques optiques dans une zone de mesure définie de la lentille d’après les résultats de réception optique du capteur photorécepteur ; une unité de vision de près déterminant si la zone de mesure inclut une partie vision de près de la lentille selon la répartition des caractéristiques optiques de la zone de mesure ; un organe de détection qui détecte la présence d’une zone non optique en plus de la zone optique de la lentille dans la zone de mesure selon les résultats de réception optique du capteur photorécepteur. Lorsque l’unité de détermination de la partie vision de près ne détermine aucune présence d’une partie vision de près dans la zone de mesure et lorsque l’organe de détection détecte la présence de la zone non optique dans la zone de mesure, l’unité fonctionnelle produit la puissance d’addition de la lentille à partir de la répartition des caractéristiques optiques de la zone optique comprise dans la zone de mesure.
(JA) 測定対象レンズの光学特性を測定するレンズメータは、レンズに測定光束を投射する光源と、レンズを通過した測定光束を受光する受光センサと、を有する測定光学系と、受光センサによる受光結果に基づき,レンズの所定測定領域内の光学特性分布を得る演算部と、測定領域内の光学特性分布に基づき,測定領域内にレンズの近用部があることを判定する近用部判定手段と、受光センサによる受光結果に基づき,測定領域内にレンズの光学領域に加えて光学領域以外があることを検出する検出手段と、を有し、演算部は、近用部判定手段により測定領域内に近用部があることが判定されず,且つ検出手段により測定領域内に光学領域以外があることが検出された場合には、測定領域内の光学領域の光学特性分布に基づき,レンズの加入度数を得る。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)