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1. (WO2007049715) TESTEUR DE CAPACITE D’EXCLUSION D’INTERFERENCE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/049715    N° de la demande internationale :    PCT/JP2006/321408
Date de publication : 03.05.2007 Date de dépôt international : 26.10.2006
CIB :
G01R 31/00 (2006.01), H01P 1/165 (2006.01)
Déposants : MASPRODENKOH KABUSHIKIKAISHA [JP/JP]; 80, Johnoh, Asada-cho, Nisshin-shi Aichi 4700194 (JP) (Tous Sauf US).
SUGIURA, Toshihiro [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
TAKEDA, Masamune [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
TAKAHASHI, Junichi [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : SUGIURA, Toshihiro; (JP).
TAKEDA, Masamune; (JP).
TAKAHASHI, Junichi; (JP)
Mandataire : ADACHI, Tsutomu; Nagoyaseni Bldg. 7F, 9-27, Nishiki 2-chome, Naka-ku, Nagoya-shi Aichi 4600003 (JP)
Données relatives à la priorité :
2005-313405 27.10.2005 JP
Titre (EN) INTERFERENCE EXCLUSION CAPABILITY TESTER
(FR) TESTEUR DE CAPACITE D’EXCLUSION D’INTERFERENCE
(JA) 妨害排除能力試験装置
Abrégé : front page image
(EN)An interference exclusion capability tester for measuring the interference exclusion capability with an electromagnetic wave of strong field strength. The tester can use even a power amplifier of low output and can be produced at low cost. The interference exclusion capability tester (1) comprises a signal generator (10) for generating a high-frequency signal, a radiating antenna (5), an amplifier (13), and a table (3) to place a device (2) under test on. The radiating antenna (5) has an electromagnetic horn (4) and a waveguide (8) having the same opening as the electromagnetic horn (4). The electromagnetic horn (4) and the waveguide (8) are arranged near to each other and in alignment with the radiation axis (12) of the electromagnetic horn (4). The electromagnetic wave radiated from the electromagnetic horn (4) is guided into the waveguide (8), and the guided electromagnetic wave is radiated toward the device (2) under test.
(FR)Cette invention concerne un testeur de capacité d’exclusion d’interférence destiné à mesurer la capacité d’exclusion d’interférence avec une onde électromagnétique à grandeur de champ élevée. Le testeur peut utiliser un amplificateur de puissance même à faible sortie et peut être produit de manière économique. Le testeur de capacité d’exclusion d’interférence (1) comprend un générateur de signal (10) qui génère un signal haute fréquence, une antenne rayonnante (5), un amplificateur (13) et une table (3) sur laquelle est placé un dispositif (2) en phase d’essai. L’antenne rayonnante (5) comporte un cornet électromagnétique (4) et un guide d’ondes (8) ayant la même ouverture que ledit cornet (4). Le cornet électromagnétique (4) et le guide d’ondes (8) sont disposés l’un près de l’autre et en alignement avec l’axe de rayonnement (12) du cornet (4). L’onde électromagnétique émise par le cornet électromagnétique (4) est guidée dans le guide d’ondes (8), et l’onde guidée rayonne vers le dispositif (2) en phase d’essai.
(JA) 強電界強度の電磁波でもって妨害排除能力を測定できる妨害排除能力試験装置であっても低出力の電力増幅装置が使用できて低コストな妨害排除能力試験装置を提供する。妨害排除能力試験装置(1)において、高周波信号を発生する信号発生器(10)と、放射アンテナ(5)と、増幅器(13)と、供試機器(2)を載置するためのテーブル(3)とを備え、前記放射アンテナ(5)は電磁ホーン(4)と該電磁ホーン(4)の開口部と同じ開口部を有する導波管(8)を備えており、前記電磁ホーン(4)と前記導波管(8)は前記電磁ホーン(4)の放射軸線(12)と同一軸線上で近設させてあり、前記電磁ホーン(4)から放射した電磁波を前記導波管(8)に導波し、導波した電磁波を前記供試機器(2)に放射する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)