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1. (WO2007049607) DISPOSITIF, INSTRUMENT ET PROCEDE DE MESURE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/049607    N° de la demande internationale :    PCT/JP2006/321147
Date de publication : 03.05.2007 Date de dépôt international : 24.10.2006
CIB :
G01N 21/03 (2006.01), G01N 21/59 (2006.01), G01N 27/327 (2006.01), G01N 27/416 (2006.01)
Déposants : Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. [JP/JP]; 1006, Oaza Kadoma, Kadoma-shi Osaka 5718501 (JP) (Tous Sauf US).
NAKAMINAMI, Takahiro; (US Seulement).
KAMEI, Akihito; (US Seulement).
FUKUNAGA, Atsushi; (US Seulement)
Inventeurs : NAKAMINAMI, Takahiro; .
KAMEI, Akihito; .
FUKUNAGA, Atsushi;
Mandataire : ISHII, Kazuo; Kitahama-Yamamoto Building 3-6, Kitahama 2-chome, Chuo-ku Osaka-shi, Osaka 5410041 (JP)
Données relatives à la priorité :
2005-314963 28.10.2005 JP
2005-319714 02.11.2005 JP
Titre (EN) MEASURING DEVICE, MEASURING INSTRUMENT AND METHOD OF MEASURING
(FR) DISPOSITIF, INSTRUMENT ET PROCEDE DE MESURE
(JA) 測定デバイス、測定装置及び測定方法
Abrégé : front page image
(EN)A measuring device for analyzing of any analyte contained in a sample, comprising a hollow base body; a sample retention part for retaining of a sample, disposed within the base body; a sample supply aperture fitted to the base body and communicating with the sample retention part; an optical measuring part for performing of optical measurement, fitted to the sample retention part; a reagent retention part for retaining of a reagent for optical measurement, fitted to the sample retention part; and an electrode disposed on an outer surface of the base body.
(FR)La présente invention concerne un dispositif de mesure destiné à mesurer un analyte quelconque contenu dans un échantillon, comprenant un corps de base creux ; une partie de retenue d’échantillon destinée à retenir un échantillon, disposée à l'intérieur du corps de base ; une ouverture d’introduction d’échantillon fixée au corps de base et communiquant avec la partie de retenue d’échantillon ; une partie de mesure optique destinée à réaliser une mesure optique, fixée à la partie de retenue d’échantillon ; une partie de retenue de réactif destinée à retenir un réactif pour une mesure optique, fixée à la partie de retenue d’échantillon ; et une électrode disposée sur une surface externe du corps de base.
(JA) 中空の基体と、基体の内部に設けられ、試料を保持するための試料保持部と、基体に設けられ、試料保持部に連通する試料供給口と、試料保持部に設けられた光学測定を行うための光学測定部と、試料保持部に設けられた、光学測定のための試薬を保持するための試薬保持部と、基体の外表面に設けられた電極と、で、試料中に含まれる被検物質を分析するための測定デバイスを構成する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)