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1. (WO2007048785) APPAREIL D'ANALYSE POUR ANALYSER UN ECHANTILLON SUR UN ELEMENT D'ESSAI
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/048785    N° de la demande internationale :    PCT/EP2006/067709
Date de publication : 03.05.2007 Date de dépôt international : 24.10.2006
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    21.08.2007    
CIB :
G01N 33/487 (2006.01), G01N 33/50 (2006.01)
Déposants : ROCHE DIAGNOSTICS GMBH [DE/DE]; Sandhoferstrasse 116, 68305 Mannheim (DE) (DE only).
F. HOFFMANN-LA ROCHE AG [CH/CH]; Grenzacherstrasse 124, CH-4070 Basel (CH) (AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BJ, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GW, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IS, IT, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MC, MD, MG, MK, ML, MN, MR, MW, MX, MZ, NA, NE, NG, NI, NL, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, SY, SZ, TD, TG, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW only).
RIEBEL, Stefan [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
WIEDER, Herbert [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
BAINCZYK, Gregor [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
AUGSTEIN, Manfred [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
GROSSER, Albert [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
KUBE, Oliver [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
MEINECKE, Dieter [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
THOES, Bruno [DE/DE]; (DE) (US Seulement)
Inventeurs : RIEBEL, Stefan; (DE).
WIEDER, Herbert; (DE).
BAINCZYK, Gregor; (DE).
AUGSTEIN, Manfred; (DE).
GROSSER, Albert; (DE).
KUBE, Oliver; (DE).
MEINECKE, Dieter; (DE).
THOES, Bruno; (DE)
Mandataire : DICK, Alexander; Isenbruck, Bösl, Hörschler, Wichmann, Huhn, Theodor-Heuss-Anlage 12, 68165 Mannheim (DE).
HOERSCHLER, Wolfram; Isenbruck, Bösl, Hörschler, Wichmann, Huhn, Theodor-Heuss-Anlage 12, 68165 Mannheim (DE)
Données relatives à la priorité :
05023219.8 25.10.2005 EP
Titre (DE) ANALYSEGERÄT ZUR ANALYSE EINER PROBE AUF EINEM TESTELEMENT
(EN) APPARATUS FOR THE ANALYSIS OF A SAMPLE ON A TEST ELEMENT
(FR) APPAREIL D'ANALYSE POUR ANALYSER UN ECHANTILLON SUR UN ELEMENT D'ESSAI
Abrégé : front page image
(DE)Die Erfindung bezieht sich auf ein Analysegerät zur Analyse einer Probe auf einem Testelement, enthaltend mindestens ein elektrisch kontaktierendes Bauteil (123, 124, 125, 126, 127, 128, 129, 130, 131, 132) zur Stromübertragung, das zur Herstellung eines elektrischen Kontakts zu mindestens einem weiteren Bauteil geeignet ist. Das elektrisch kontaktierende Bauteil (123, 124, 125, 126, 127, 128, 129, 130, 131, 132) ist dabei ein spritzgegossener Schaltungsträger (MID).
(EN)The invention relates to an apparatus for analyzing a sample on a test element. Said apparatus comprises at least one electrically contacting component (123, 124, 125, 126, 127, 128, 129, 130, 131, 132) for transmitting power, which is suitable for establishing electric contact to at least one other component. The electrically contacting component (123, 124, 125, 126, 127, 128, 129, 130, 131, 132) is embodied as an injection-molded circuit support (MID).
(FR)L'invention concerne un appareil d'analyse pour analyser un échantillon sur un élément d'essai, cet appareil comprenant au moins un élément de contact électrique (123, 124, 125, 126, 127, 128, 129, 130, 131, 132) transmettant le courant et apte à établir un contact électrique avec au moins un autre élément. L'élément de contact électrique (123, 124, 125, 126, 127, 128, 129, 130, 131, 132) est un support de circuit moulé par injection (MID).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)