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1. (WO2007048701) DETECTION DE TENTATIVE D'EFFRACTION SUR UNE PUCE A TRAVERS SA STRUCTURE SUPPORT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/048701    N° de la demande internationale :    PCT/EP2006/067230
Date de publication : 03.05.2007 Date de dépôt international : 10.10.2006
CIB :
G06K 19/073 (2006.01)
Déposants : GEMPLUS [FR/FR]; Avenue du Pic de Bertagne, Parc d'Activités de Gemenos, F-13420 Gemenos (FR) (Tous Sauf US).
LOUBET MOUNDI, Philippe [FR/FR]; (FR) (US Seulement)
Inventeurs : LOUBET MOUNDI, Philippe; (FR)
Données relatives à la priorité :
0510886 25.10.2005 FR
Titre (EN) DETECTION OF AN ATTEMPT FOR INTRUSION INTO A CHIP THROUGH THE SUPPORT STRUCTURE THEREOF
(FR) DETECTION DE TENTATIVE D'EFFRACTION SUR UNE PUCE A TRAVERS SA STRUCTURE SUPPORT
Abrégé : front page image
(EN)The invention relates to detecting an intrusion or the attempt thereof on an electronic chip (3) and/or through a support structure (1) to which said chip is connected by the location (30) thereof. Means (5) for displaying the intrusion is jointed to said support structure in front of the location by integration or application thereof, wherein at least one physical parameter of said means varies according to a first reference state corresponding to the unaltered state of the intrusion displaying means or to a second intrusion or intrusion-attempt state corresponding to the altered state of said intrusion displaying means.
(FR)II s'agit de déceler une effraction, ou tentative, sur une puce électronique (3) et/ou à travers une structure (1) support de cette puce à laquelle la puce est liée en un emplacement (30) . En regard de cet emplacement, on adjoint à la structure- support , en l'y intégrant ou en l'y rapportant, un moyen (5) révélateur d'effraction dont au moins un paramètre physique varie suivant qu'on se trouve dans un premier état de référence correspondant à un état non altéré du moyen révélateur d'effraction ou dans un deuxième état d'effraction ou de tentative d'effraction, correspondant à un état altéré dudit moyen révélateur d'effraction.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : français (FR)
Langue de dépôt : français (FR)