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1. (WO2007048271) APPAREIL D’ESSAI AU CHOC
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/048271    N° de la demande internationale :    PCT/CN2005/001752
Date de publication : 03.05.2007 Date de dépôt international : 24.10.2005
CIB :
G01M 7/08 (2006.01), G01L 5/16 (2006.01)
Déposants : JETS TECHNICS LIMITED [CN/CN]; 18/F., Saxon Tower 7 Cheung Shun Street Cheung Sha Wan Kowloon Hong Kong (CN) (Tous Sauf US).
SO, Tat Wing [CN/CN]; (CN) (US Seulement).
FAN, Ka Lun [CN/CN]; (CN) (US Seulement).
CHEUNG, Ching Ching [CN/CN]; (CN) (US Seulement)
Inventeurs : SO, Tat Wing; (CN).
FAN, Ka Lun; (CN).
CHEUNG, Ching Ching; (CN)
Mandataire : LIU, SHEN & ASSOCIATES; A0601, Huibin Building No. 8 Beichen Dong Street Chaoyang District Beijing 100101 (CN)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) AN IMPACT TESTING APPARATUS
(FR) APPAREIL D’ESSAI AU CHOC
(ZH) 冲击测试仪
Abrégé : front page image
(EN)An impact testing apparatus comprises a testing bracket and a dropping assembly, wherein the testing bracket comprises a bracket flat-roof and multi-retractable supporting feet which are connected to the bracket flat-roof, and the dropping assembly comprises a dropping axis and a testing head which is connected to the lower end of the dropping axis.
(FR)La présente invention concerne un appareil d’essai au choc qui comprend un support d’essai et un assemblage de chute. Le support d’essai comprend une partie supérieure plate de support et des pieds de support rétractables multiples qui sont reliés à la partie supérieure plate de support, et l’assemblage de chute comprend un axe de chute et une tête d’essai qui est reliée à l’extrémité inférieure de l’axe de chute.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)