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1. (WO2007020862) ANALYSEUR DE MASSE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/020862    N° de la demande internationale :    PCT/JP2006/315803
Date de publication : 22.02.2007 Date de dépôt international : 10.08.2006
CIB :
G01N 27/64 (2006.01), G01N 27/62 (2006.01)
Déposants : Shimadzu Corporation [JP/JP]; 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi Kyoto 6048511 (JP) (Tous Sauf US).
SETOU, Mitsutoshi [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
SHIMMA, Shuichi [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
HARADA, Takahiro [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
TAKEUCHI, Sadao [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
FURUHASHI, Osamu [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
OGAWA, Kiyoshi [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
YOSHIDA, Yoshikazu [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : SETOU, Mitsutoshi; (JP).
SHIMMA, Shuichi; (JP).
HARADA, Takahiro; (JP).
TAKEUCHI, Sadao; (JP).
FURUHASHI, Osamu; (JP).
OGAWA, Kiyoshi; (JP).
YOSHIDA, Yoshikazu; (JP)
Mandataire : KOBAYASI, Ryohei; KOBAYASI PATENT & TRADEMARK, 7th Floor Hougen-Sizyokarasuma Building 37, Motoakuozi-tyo Higasinotouin Sizyo-sagaru, Simogyo-ku Kyoto-si Kyoto 6008091 (JP)
Données relatives à la priorité :
2005-233892 12.08.2005 JP
Titre (EN) MASS ANALYZER
(FR) ANALYSEUR DE MASSE
(JA) 質量分析装置
Abrégé : front page image
(EN)A mass analyzer performing mass analysis while microscope-observing the two-dimensional region of a sample (15), wherein an observing position at which an analysis portion is determined while the image of the sample (15) photographed by a CCD camera (23) is observed is separated from an analyzing position at which a mass analysis is performed by irradiating the sample (15) with a laser beam from a laser irradiating unit (20) to allow a sample (15)-mounted stage (13) to be moved with high accuracy between the observing position and the analyzing position by means of a stage drive mechanism (30). Therefore, an observing optical system (24) can be brought close to the sample (15) brought to the observing position without interference with ions flying from the sample at analyzing nor interference with a laser condensing optical system (22). Therefore, the spatial resolution of observation can be enhanced without a reduction in ion detection efficiency.
(FR)L’invention concerne un analyseur de masse réalisant une analyse de masse tout en observant au microscope la région en deux dimensions d’un échantillon (15), caractérisé en ce que l’on sépare une position d’observation, à laquelle on détermine une portion d’analyse, alors que l’image de l’échantillon (15) photographié par une caméra CCD (23) est observée, par rapport à une position d’analyse, à laquelle une analyse de masse est réalisée par irradiation de l’échantillon (15) avec un faisceau laser provenant d’une unité d’irradiation laser (20) pour permettre à un support (13) comportant un échantillon (15) d’être déplacé avec une grande précision entre la position d’observation et la position d’analyse au moyen d’un mécanisme d’entraînement de support (30). Ainsi, un système optique d’observation (24) peut être rapproché de l’échantillon (15) amené à la position d’observation, sans interférence avec les ions s’échappant de l’échantillon lors de l’analyse ni interférence avec un système optique à condensation laser (22). Ainsi, on peut améliorer la résolution spatiale d’observation sans compromettre l’efficacité de détection ionique.
(JA) サンプル15の二次元領域を顕微観察しながら質量分析を行う質量分析装置において、CCDカメラ23で撮影したサンプル15の画像を観察しながら分析部位を定める観察位置と、該サンプル15にレーザ照射部20よりレーザ光を照射して質量分析を実行する分析位置とを離し、サンプル15を載せたステージ13をステージ駆動機構30により観察位置と分析位置との間で高精度で移動可能とする。これにより、分析時にサンプルから出るイオンの飛行を妨害したりレーザ集光光学系22と干渉することなく、観察用光学系24を観察位置にきたサンプル15に近づけることができる。これにより、イオン検出効率を下げることなく、観察の空間分解能を高めることができる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)