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1. (WO2007020549) PROCEDE POUR ETALONNER UN SYSTEME DE COMMANDE CONCU POUR COMMANDER UN DISPOSITIF
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/020549    N° de la demande internationale :    PCT/IB2006/052652
Date de publication : 22.02.2007 Date de dépôt international : 02.08.2006
CIB :
G06F 3/03 (2006.01), G06F 3/033 (2006.01)
Déposants : KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1, NL-5621 BA Eindhoven (NL) (AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BJ, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GW, HN, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IS, IT, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MC, MD, MG, MK, ML, MN, MR, MW, MX, MZ, NA, NE, NG, NI, NL, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, SY, SZ, TD, TG, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW only).
PHILIPS INTELLECTUAL PROPERTY & STANDARDS GMBH [DE/DE]; Steindamm 94, 20099 Hamburg (DE) (DE only).
KNEISSLER, Jan [DE/DE]; (NL) (US Seulement)
Inventeurs : KNEISSLER, Jan; (NL)
Mandataire : GROENENDAAL, Antonius, W., M.; Prof. Holstlaan 6, NL-5656 AA Eindhoven (NL)
Données relatives à la priorité :
05107427.6 12.08.2005 EP
Titre (EN) METHOD OF CALIBRATING A CONTROL SYSTEM FOR CONTROLLING A DEVICE
(FR) PROCEDE POUR ETALONNER UN SYSTEME DE COMMANDE CONCU POUR COMMANDER UN DISPOSITIF
Abrégé : front page image
(EN)The invention describes a method of calibrating a control system (1) for controlling a device (10), comprising a pointing device (2) with a camera (3), in which method a test pattern (TP) is presented on a display (4) associated with the device (10) to be controlled. The pointing device (2) is aimed in the direction of the display (4). Using the camera (3) of the pointing device (2), image data (5) of the test pattern (TP) shown on the display (4) are generated and subsequently analyzed to determine image characteristic information (6). The control system (1) and/or the display (4) associated with the device (10) to be controlled is then calibrated according to the image characteristic information (6). The invention further describes a control system (1) for controlling a device (10). Furthermore, the invention describes a control interface (20) for use in the control system (1), a pointing device (2), and an electrically or electronically controllable device (10) comprising such a control interface (20).
(FR)La présente invention concerne un procédé pour étalonner un système de commande (1) conçu pour commander un dispositif (10) comprenant un dispositif de pointage (2) avec une caméra (3). Selon ce procédé, un motif de test (TP) est présenté sur un système d'affichage (4) associé au dispositif à commander (10). Le dispositif de pointage (2) est orienté en direction du système d'affichage (4). Au moyen de la caméra (3) du dispositif de pointage (2), des données d'image (5) du motif de test (TP) montré sur le système d'affichage (4) sont produites, puis sont analysées afin de déterminer des informations caractéristiques d'image (6). Le système de commande (1) et/ou le système d'affichage (4) associé au dispositif à commander (10) sont ensuite étalonnés conformément aux informations caractéristiques d'image (6). Cette invention concerne également un système de commande (1) conçu pour commander un dispositif (10). En outre, cette invention concerne une interface de commande (20) utilisée dans le système de commande (1), un dispositif de pointage (2), ainsi qu'un dispositif (10) qui peut être commandé par voie électrique ou électronique et qui comprend une telle interface de commande (20).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)