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1. (WO2007020441) ETALONNAGE D'UN APPAREIL DE MESURE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2007/020441 N° de la demande internationale : PCT/GB2006/003067
Date de publication : 22.02.2007 Date de dépôt international : 16.08.2006
CIB :
G01B 21/04 (2006.01)
Déposants : SCOTT, Paul, James[GB/GB]; GB (UsOnly)
TAYLOR HOBSON LIMITED[GB/GB]; 2 New Star Road Leicester LE4 9JQ, GB (AllExceptUS)
Inventeurs : SCOTT, Paul, James; GB
Mandataire : CLARK, Jane, Anne ; Mathys & Squire 120 Holborn London EC1N 2SQ, GB
Données relatives à la priorité :
0516990.918.08.2005GB
Titre (EN) CALIBRATION OF A METROLOGICAL APPARATUS
(FR) ETALONNAGE D'UN APPAREIL DE MESURE
Abrégé : front page image
(EN) A metrological apparatus has a driver (33) that effects relative movement between a support (4) and a measurement probe (8) carriage (7) in a first direction (X) to cause the measurement probe (8) to traverse a measurement path along a surface of an object supported by the support. The measurement probe (8) moves in a second direction (Z) transverse to the first direction as it follows surface characteristics. Respective first and second position transducers (35, 32) provide first and second position data representing the position of the measurement probe in the first and second direction. A calibrator (300) carries out a calibration procedure using measurement data obtained on a surface of known form. The calibrator determines calibration coefficients of an expression relating corrected measurement data and the actual measurement data by using the known form of the reference surface as the corrected measurement data. The calibrator varies the calibration coefficient for Chebychev points until the at least one expression provides a fit to the data.
(FR) L'invention se rapporte à un appareil de mesure qui comprend une unité d'entraînement (33) produisant un mouvement relatif entre un support (4) et la monture (7) d'une sonde (8) de mesure dans une première direction (X), de manière à faire parcourir à la sonde (8) un trajet de mesure le long de la surface d'un objet maintenu par le support. La sonde (8) de mesure se déplace en outre dans une seconde direction (Z) transversale à la première direction tandis qu'elle suit les caractéristiques d'une surface. Un premier et un second transducteur (35, 32) de position respectifs fournissent des premières et des secondes données de position représentant la position de la sonde de mesure dans la première et dans la seconde direction. Un dispositif d'étalonnage (300) effectue la procédure d'étalonnage en utilisant des données de mesure obtenues sur une surface présentant une forme connue. Le dispositif d'étalonnage détermine les coefficients d'étalonnage d'une expression se rapportant aux données de mesure corrigées et aux données de mesure effectives, en utilisant la forme connue de la surface de référence en tant que données de mesure corrigées. Le dispositif d'étalonnage modifie le coefficient d'étalonnage pour les points de Tchebycheff jusqu'à ce qu'au moins une expression soit ajustée aux données.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)