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1. (WO2007018689) AUTO-ETALONNAGE D'UN INSTRUMENT INERTIEL SUR LA BASE D'UN ESTIMATEUR DE POLARISATION EN TEMPS REEL
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2007/018689 N° de la demande internationale : PCT/US2006/021064
Date de publication : 15.02.2007 Date de dépôt international : 31.05.2006
CIB :
G01C 25/00 (2006.01) ,G01C 19/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
C
MESURE DES DISTANCES, DES NIVEAUX OU DES RELÈVEMENTS; GÉODÉSIE; NAVIGATION; INSTRUMENTS GYROSCOPIQUES; PHOTOGRAMMÉTRIE OU VIDÉOGRAMMÉTRIE
25
Fabrication, étalonnage, nettoyage ou réparation des instruments ou des dispositifs mentionnés dans les autres groupes de la présente sous-classe
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
C
MESURE DES DISTANCES, DES NIVEAUX OU DES RELÈVEMENTS; GÉODÉSIE; NAVIGATION; INSTRUMENTS GYROSCOPIQUES; PHOTOGRAMMÉTRIE OU VIDÉOGRAMMÉTRIE
19
Gyroscopes; Dispositifs sensibles à la rotation utilisant des masses vibrantes; Dispositifs sensibles à la rotation sans masse en mouvement; Mesure de la vitesse angulaire en utilisant les effets gyroscopiques
Déposants : LEE, Charles, A.[US/US]; US (UsOnly)
NORTHROP GRUMMAN CORPORATION[US/US]; THOUSAND, CONNIE - SENIOR COUNSEL 1840 Century Park East Los Angeles, CA 90067-2199, US (AllExceptUS)
Inventeurs : LEE, Charles, A.; US
Mandataire : PATTI, Carmen, B.; CARMEN B. PATTI & ASSOCIATES, LLC One North Lasalle Street, 44th Floor Chicago, IL 60602, US
Données relatives à la priorité :
11/364,31628.02.2006US
60/706,62808.08.2005US
Titre (EN) SELF-CALIBRATION FOR AN INERTIAL INSTRUMENT BASED ON REAL TIME BIAS ESTIMATOR
(FR) AUTO-ETALONNAGE D'UN INSTRUMENT INERTIEL SUR LA BASE D'UN ESTIMATEUR DE POLARISATION EN TEMPS REEL
Abrégé :
(EN) An exemplary inertial measurement apparatus incorporates self-calibrating bias correction signals. First and second inertial instruments generate respective input signals representative of an inertial attribute to be measured. A bias estimator generates first and second bias correction signals. First and second summation nodes receive the respective input signals and the respective first and second bias correction signals. The first and second summation nodes provide respective summed signals to the first and second inertial instruments. The first and second inertial instruments generate respective output signals representative of a value of the inertial attribute based on the respective summed signals. The bias estimator calculates the first and second bias correction signals based on first and second measurements made during respective first and second time intervals where a sign of one of the first and second bias error signals changes from one state during the first time interval to the other state during the second time interval.
(FR) L'invention concerne un dispositif de mesure inertiel faisant intervenir des signaux de correction de polarisation à auto-étalonnage. Un premier et un deuxième instrument inertiel produisent des signaux d'entrée respectifs caractéristiques d'un attribut inertiel à mesurer. Un estimateur de polarisation produit un premier et un deuxième signal de correction de polarisation. Un premier et un deuxième noeud de sommation reçoivent les signaux d'entrées respectifs et les signaux de correction de polarisation respectifs. Le premier et le deuxième noeud de sommation fournissent des signaux sommés respectifs au premier et au deuxième instrument inertiel. Le premier et le deuxième instrument inertiel produisent des signaux de sortie respectifs caractéristiques d'une valeur d'un attribut inertiel sur la base des signaux sommés respectifs. Un estimateur de polarisation calcule le premier et le deuxième signal de correction de polarisation sur la base d'une première et d'une deuxième mesure réalisées lors d'un premier et d'un deuxième intervalle de temps au cours desquels un signe du premier et/ou du deuxième signal d'erreur de polarisation change d'un état lors du premier intervalle de temps à l'autre état lors du deuxième intervalle de temps.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)