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1. (WO2007018118) PROCÉDÉ DE MESURE DU DÉCENTRAGE DE L’AXE OPTIQUE SUR LES SURFACES AVANT ET ARRIÈRE D’UNE LENTILLE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/018118    N° de la demande internationale :    PCT/JP2006/315396
Date de publication : 15.02.2007 Date de dépôt international : 03.08.2006
CIB :
G01B 11/24 (2006.01), G01B 11/00 (2006.01), G01M 11/00 (2006.01)
Déposants : MITAKA KOHKI CO., LTD. [JP/JP]; 1-18-8, Nozaki Mitaka-shi, Tokyo 181-0014 (JP) (Tous Sauf US).
NAKAMURA, Katsushige; (US Seulement).
MIURA, Katsuhiro; (US Seulement)
Inventeurs : NAKAMURA, Katsushige; .
MIURA, Katsuhiro;
Mandataire : MIYOSHI, Hidekazu; Toranomon Kotohira Tower 2-8, Toranomon 1-chome Minato-ku, Tokyo 1050001 (JP)
Données relatives à la priorité :
2005-228760 05.08.2005 JP
Titre (EN) METHOD FOR MEASURING DECENTRALIZATION OF OPTICAL AXIS ON THE FRONT AND THE REAR SURFACE OF LENS
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE DU DÉCENTRAGE DE L’AXE OPTIQUE SUR LES SURFACES AVANT ET ARRIÈRE D’UNE LENTILLE
(JA) レンズにおける表裏面の光軸偏芯量の測定方法
Abrégé : front page image
(EN)A laser probe is used to measure a cross sectional shape in a first and a second direction at each of apexes at the front and the rear surface of an aspheric lens. The measured cross sectional shape of the front and the rear surface of the aspheric lens is described in a common coordinate system decided according to the 3D position of the measured pin hole (common reference point). According to the measured cross sectional shape, each of the apexes is detected so as to obtain the relative decentralization amount of the front and the rear surface of the aspheric lens with accuracy in the order of micrometers or below.
(FR)Une sonde laser est utilisée pour mesurée la forme de la section transversale dans une première et une seconde direction à chacun des sommets sur la surface avant et arrière d’une lentille asphérique. La forme de la section transversale de la surface avant et arrière de la lentille asphérique est décrite dans un système de coordonnées commun déterminé en fonction de la position tridimensionnelle du trou d'épingle mesuré (point de référence commun). En fonction de la forme de la section transversale mesurée, chacun des sommets est détecté afin d’obtenir la proportion de décentrage relatif de la surface avant et arrière de la lentille asphérique avec une précision de l'ordre du micromètre ou inférieure.
(JA) レーザープローブにより非球面レンズの表裏両面おける各頂点での第1方向及び第2方向の断面形状測定を行い、測定された非球面レンズの表裏両面の断面形状を、測定されたピンホール(共通基準点)の三次元位置に基づいて決定された共通の座標系で記述する。測定された断面形状に基づいて各頂点位置を検出して非球面レンズの表裏両面の相対的な偏芯量をマイクロメートル以下のレベルで定量的に求める。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)